HORIBA Scientific(Jobin Yvon光譜技術(shù))----熒光光譜儀器的,提供全套穩(wěn)態(tài)、瞬態(tài)和穩(wěn)-瞬態(tài)以及各種偶聯(lián)技術(shù)的解決方案。
借助于成熟的FluoroLog?技術(shù),Nanolog?采用模塊化設(shè)計(jì),即可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)態(tài)測(cè)量,也可實(shí)現(xiàn)瞬態(tài)測(cè)量(TCSPC技術(shù)),系統(tǒng)搭配成像光譜儀,可實(shí)現(xiàn)紅外三維熒光快速測(cè)量。
NanoLog 系列儀器專門用于納米技術(shù)和納米材料的前沿研究,NanoLog ?可以檢測(cè)到800-1700nm的近紅外范圍,可選~2μm的多通道檢測(cè)器和~3μm的單通道檢測(cè)器,同時(shí)也可實(shí)現(xiàn)紫外-可見(jiàn)區(qū)熒光光譜測(cè)量。專為單壁碳納米管(SWNTs)設(shè)計(jì)的NanoSizer?軟件,可計(jì)算熒光共振能量傳遞(FRET)和碳管內(nèi)徑分布,并且在微秒時(shí)間內(nèi)就能獲得完整的二維光譜圖,1秒內(nèi)獲得的激發(fā)-發(fā)射三維熒光光譜圖。
近紅外熒光光譜儀技術(shù)參數(shù)
· 450W的大功率連續(xù)氙燈,涵蓋UV~NIR波長(zhǎng)范圍
· 快速獲得全波長(zhǎng)范圍激發(fā)-發(fā)射三維熒光圖
· Symphony II InGaAs陣列檢測(cè)器:800~1700nm;規(guī)格可選:256×1,512×1和1024×1,單像元25?m;噪音水平:650e-rms (液氮制冷);可選電制冷;擴(kuò)展范圍可選(1.1-2.2?m)
· iHR320發(fā)射光譜儀:焦長(zhǎng)=320mm;f/4.1;線色散=2.64nm/mm;分辨率=0.06nm;全軟件控制三光柵塔輪(所有測(cè)定在光柵刻線數(shù)1200gr/mm條件下)
· 固態(tài)近紅外檢測(cè)器,光電倍增管覆蓋UV~NIR全光譜范圍壽命測(cè)定,采用時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)技術(shù)測(cè)定熒光壽命范圍:100ps~1ms(UV~NIR);磷光壽命范圍1us~>10s(UV~NIR)
近紅外熒光光譜儀主要特點(diǎn)
· 一秒內(nèi)獲得激發(fā)-發(fā)射三維光譜
· 高靈敏度的近紅外InGaAs陣列檢測(cè)器
· 高光譜分辨率
· 易于實(shí)現(xiàn)SWNTs的定性和定量分析
· 可選多種檢測(cè)器適于紫外至近紅外光譜范圍的檢測(cè)需求:
- PMT用于高靈敏度和時(shí)間分辨的測(cè)量
- InGaAs陣列檢測(cè)器用于NIR數(shù)據(jù)的快速采集
- CCD陣列檢測(cè)器用于UV-Vis數(shù)據(jù)的快速采集
· 同時(shí)解析量子點(diǎn)
· 易于實(shí)現(xiàn)能量轉(zhuǎn)移研究
· 模塊設(shè)計(jì)以滿足不同實(shí)驗(yàn)的需求
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