JEOL JEM-2800 高通量場發(fā)射透射電子顯微鏡
JEOL JEM-2800 高通量場發(fā)射透射電子顯微鏡
放大倍數(shù):zui高2,000,000 加速電壓:200KF
分辨率:0.21nm(點分辨率) 儀器種類:場發(fā)射
JEM-2800是日本電子透射電子顯微鏡系列中的一款特殊設(shè)計的產(chǎn)品,在兼顧高分辨高穩(wěn)定性的同時,zui求分析效率的zui大化和操作的自動化。顛覆傳統(tǒng)的電鏡外觀設(shè)計,除了讓人耳目一新外,還對設(shè)置環(huán)境更具抗干擾能力。
主要技術(shù)指標:
1. 點分辨率:0.21nm;
2. 晶格分辨率:0.1nm;
3. STEM 分辨率:0.16nm;
4. 二次電子分辨率:0.5nm;
5. 能譜:可以安裝兩個超級能譜
6. 洛倫茲模式:標配
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