XTD系列上照式光譜測厚儀，適用于各種超大異形件及微小密集型多點測試，如五金類模具、衛(wèi)浴產品、線路板以及高精密密集電子元器件表面處理的成分和厚度分析。那今天光譜測厚儀生產廠家一六儀器就來跟大家介紹一下XTD系列產品吧。

　　XTD系列產品特征：

　　①　XYZ高精密移動裝置：快速精準定位，手/自動(可選)，自動版可實現編程定位多點自動控制。

　?、凇∽兘?對焦：配備高敏感鏡頭，實現無感對焦，可測各種異形件、超大工件。

　　③　軟、硬件雙向操作：人性化設計，實現軟件、硬件雙向快捷操作。

　　XTD系列性能優(yōu)勢：

　　(1) *的 EFP算法：多層多元素、各種元素及有機物，甚至有同種元素 在不同層也可精準測量;

　　(2) 上照式設計：實現可對超大工件進行快、準、穩(wěn)高效率測量;

　　(3) 自動對焦：高低大小樣品可快速清晰對焦;

　　(4) 變焦裝置算法：可對0-90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測 ;

　　(5) 小面積測量：最小測量面積0.002mm2;

　　(6) 可編程自動位移：選配自動平臺，X210*Y230*Z145mm行程內無人值守自動測量;

　　以上就是光譜測厚儀生產廠家一六儀器給大家整理的全部內容，如果大家想要了解更多關于光譜測厚儀的內容，歡迎咨詢我們。一六儀器專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產、銷售和服務。公司產品廣泛的應用于環(huán)保、涂鍍層、糧食、地質地礦、電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子、航空航天等制造領域。