外觀分析裝置 谷物鑒別儀 RN-700的特性
- 外觀分析裝置 谷物鑒別儀 RN-700 在 大米的流通中,當(dāng)生產(chǎn)者向政府出售大米時(shí),有必要根據(jù)農(nóng)產(chǎn)品檢驗(yàn)法檢查質(zhì)量等項(xiàng)目。是強(qiáng)制性的。到目前為止,檢查都是由目視檢查員進(jìn)行的,但由于勞動(dòng)力短缺以及招聘和培訓(xùn)成本,對(duì)自動(dòng)化的需求越來(lái)越大。Ketsuto 科學(xué)研究所的 RN-700 谷物鑒別儀使這種檢查自動(dòng)化,實(shí)現(xiàn)了更快的檢查、降低的檢查成本和檢查結(jié)果的量化。HALCON 用作此設(shè)備的圖像處理引擎。參考:谷物檢測(cè)器 RN-700 產(chǎn)品頁(yè)面。
- 甚至在該設(shè)備發(fā)布之前,人們就對(duì)檢查的自動(dòng)化抱有很高的期望,但以下問(wèn)題成為瓶頸,該設(shè)備的普及沒有進(jìn)展。?檢查員可在數(shù)秒至10秒以上完成的檢查,機(jī)器需要1分鐘左右。?僅對(duì)整個(gè)圖像進(jìn)行判斷,無(wú)法對(duì)每一粒米進(jìn)行詳細(xì)判斷/評(píng)估。RN-700利用HALCON高速?gòu)?qiáng)大的分割、特征值檢測(cè)等功能解決了上述問(wèn)題。最快可在約16秒內(nèi)檢查約1000粒米。此外,現(xiàn)在可以使用高級(jí)區(qū)域分割功能來(lái)判斷每一粒米。
- 此外,外殼的小型化也是此類設(shè)備的重要主題。該設(shè)備利用HALCON的高擴(kuò)展性,在ARM CPU + Linux OS環(huán)境下進(jìn)行圖像處理,實(shí)現(xiàn)了緊湊而穩(wěn)定的外殼。為表彰該系統(tǒng)的高性能和創(chuàng)新性,它獲得了農(nóng)業(yè)和食品工程師協(xié)會(huì)頒發(fā)的開發(fā)獎(jiǎng),以及食品產(chǎn)業(yè)新聞社頒發(fā)的食品工業(yè)技術(shù)成就獎(jiǎng)。
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