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場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一種高分辨率的電子顯微鏡，主要用于觀(guān)察和分析各種材料的表面形貌、微觀(guān)結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分。其工作原理主要包括以下幾個(gè)方面：
1、電子源：場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡使用場(chǎng)發(fā)射電子槍作為電子源，這種電子槍能夠產(chǎn)生高亮度、高相干性的電子束。場(chǎng)發(fā)射電子槍的原理是利用強(qiáng)電場(chǎng)使得金屬的電子脫離束縛，形成電子束。這種方法產(chǎn)生的電子束具有很高的亮度和較小的能量分散，有利于提高成像分辨率。
2、電子光學(xué)系統(tǒng)：電子束經(jīng)過(guò)一系列的電磁透鏡和光闌，進(jìn)行聚焦、偏轉(zhuǎn)和整形，最終形成一個(gè)細(xì)小的探針。這個(gè)探針可以在樣品表面進(jìn)行掃描，從而獲取樣品表面的形貌和結(jié)構(gòu)信息。
3、掃描系統(tǒng)：掃描線(xiàn)圈控制電子束在樣品表面進(jìn)行逐行掃描，每次掃描一行，然后向下移動(dòng)一個(gè)像素的距離，繼續(xù)掃描下一行。這樣，整個(gè)樣品表面都會(huì)被電子束覆蓋到。掃描過(guò)程中，電子束與樣品相互作用，產(chǎn)生二次電子、背散射電子等信號(hào)。
4、信號(hào)檢測(cè)與成像：場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡配備有多種探測(cè)器，用于收集不同種類(lèi)的信號(hào)。其中，二次電子探測(cè)器主要用于收集二次電子，以獲取樣品表面的形貌信息；背散射電子探測(cè)器用于收集背散射電子，以獲取樣品的成分和晶體結(jié)構(gòu)信息。這些信號(hào)經(jīng)過(guò)放大、處理后，可以生成相應(yīng)的圖像。
5、真空系統(tǒng)：為了確保電子束能夠在樣品表面產(chǎn)生足夠的信號(hào)，以及防止電子槍和樣品受到污染，需要維持一定的高真空環(huán)境。通常，真空度要求在10^-4帕斯卡以下。
總之，場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的工作原理是通過(guò)場(chǎng)發(fā)射電子槍產(chǎn)生高亮度、高相干性的電子束，經(jīng)過(guò)電子光學(xué)系統(tǒng)聚焦、偏轉(zhuǎn)和整形，形成細(xì)小的探針。探針在樣品表面進(jìn)行掃描，與樣品相互作用產(chǎn)生各種信號(hào)。這些信號(hào)被探測(cè)器收集并處理，最終生成反映樣品表面形貌、結(jié)構(gòu)和成分信息的圖像。
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