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低溫試驗箱考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在經(jīng)受溫度突變不致產(chǎn)生損傷作用的非散熱電工、電子產(chǎn)品低溫下貯存和使用的適應(yīng)性。低溫試驗箱可以采用強迫空氣循環(huán)來保持溫度均勻。為了限制輻射影響，試驗箱內(nèi)壁各部分溫度與規(guī)定試驗溫度之差不應(yīng)超過8%（按開爾文溫度計算），且試驗樣品不應(yīng)受到不符合上述要求的任何加熱與冷卻元件的直接輻射。
低溫試驗箱采用數(shù)控機床加工成型，并采用無反作用把手，操作簡便。箱體內(nèi)膽采用進口不銹鋼鏡面板，外膽采用A3鋼板噴塑。利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃制造的大型觀測窗，可隨時清晰的觀測箱內(nèi)試驗狀況。設(shè)備配有直徑50mm測試孔，可供外接測試電源線或信號線使用。低溫試驗箱入門簡介*：4000-662-888
低溫試驗箱采用數(shù)控機床加工成型，并采用無反作用把手，操作簡便。箱體內(nèi)膽采用進口不銹鋼鏡面板，外膽采用A3鋼板噴塑。利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃制造的大型觀測窗，可隨時清晰的觀測箱內(nèi)試驗狀況。設(shè)備配有直徑50mm測試孔，可供外接測試電源線或信號線使用。低溫試驗箱入門簡介*：4000-662-888
低溫試驗箱的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)：GB /T 2421-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第1部分:總則（idtI EC 60068-1:1988）；GB /T 2422-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗術(shù)語（eqvI EC 60068-5-2:1990）；GB /T 2424.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程高溫低溫試驗導(dǎo)則。
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