涂層測(cè)厚儀/漆膜測(cè)厚儀操作注意事項(xiàng)
由于電磁場(chǎng)在不同表面結(jié)構(gòu)有不同的分布形式，從而導(dǎo)致測(cè)量誤差。為避免因操作而引起的誤差，在使用時(shí)，請(qǐng)遵循以下原則：
1、在同一點(diǎn)重復(fù)測(cè)量時(shí)，每次將探頭離開(kāi)10cm以上，間隔幾秒鐘后再測(cè)，避免被測(cè)材料因探頭磁化后，影響下次測(cè)量結(jié)果；
2、使用時(shí)，平面調(diào)零測(cè)平面，凸面調(diào)零測(cè)凸面，凹面調(diào)零測(cè)凹面，避免因結(jié)構(gòu)不同而產(chǎn)生測(cè)量誤差；
3、盡量使用被測(cè)材料作為調(diào)零基體，避免因不同材料的導(dǎo)磁性不同，而出現(xiàn)測(cè)量誤差；
4、盡量在被測(cè)材料的同一部位調(diào)零后，再測(cè)相同部位。例如，在工件邊緣和中間部位應(yīng)分別調(diào)零；
5、做調(diào)零用的表面，要盡量光滑；被測(cè)材料表面的粗糙度對(duì)測(cè)量數(shù)值影響很大，如果表面不光滑，應(yīng)視情況取平均值；
6、測(cè)量時(shí)，探頭要保持與被測(cè)料面垂直，否則會(huì)產(chǎn)生較大誤差。
任何覆蓋層物質(zhì)
一.推動(dòng)指輪時(shí)，不要觸動(dòng)按鈕； 盡量保證測(cè)量點(diǎn)與兩支撐點(diǎn)在同一平面上；
二. 在粗糙表面測(cè)量時(shí)，讀數(shù)將偏大。要多次測(cè)量求取平均值；
三.測(cè)量柱體或圓形邊緣時(shí)，一定要利用儀器測(cè)嘴的V型口；
四.測(cè)量含碳量高或經(jīng)過(guò)熱處理后的硬質(zhì)鋼上涂層時(shí)，測(cè)值會(huì)偏大； 基體厚度小于臨界厚度時(shí)，測(cè)值會(huì)偏大； 在凸凹測(cè)量會(huì)對(duì)測(cè)值有影響，在凸面時(shí)測(cè)值偏大、凹面時(shí)測(cè)值偏??；
五、MikroTest涂層測(cè)厚儀的維護(hù)與保養(yǎng) 　　
保證測(cè)厚儀遠(yuǎn)離*磁鐵或電磁鐵，遠(yuǎn)離強(qiáng)磁場(chǎng)、強(qiáng)電場(chǎng)； 切勿猛烈碰撞 ，測(cè)厚儀使用完后指輪一定要反時(shí)針旋轉(zhuǎn)到二分之一刻度以上的位置再放置在存放點(diǎn)；

涂層測(cè)厚儀/漆膜測(cè)厚儀操作注意事項(xiàng)
1基體金屬特性，對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。 　
2基體金屬厚度，檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度，如果沒(méi)有，可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)
3 邊緣效應(yīng)，不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。 　　
4曲率，不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。 　　
5 讀數(shù)次數(shù)，通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。 　　
6 表面清潔度，測(cè)量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去
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