顆粒的大小稱為顆粒的粒度。顆粒是在一定尺寸范圍內(nèi)具有特定形狀的幾何體。顆粒不僅指固體顆粒，還有霧滴、油珠等液體顆粒。顆粒的概念似乎很簡單，但由于各種顆粒的形狀復(fù)雜，使得粒度分布的測試工作比想象的要復(fù)雜得多。因此要真正了解各種粒度測試技術(shù)所得出的測試結(jié)果，明確顆粒的定義是很重要的。

    篩分法： 優(yōu)點：簡單、直觀、設(shè)備造價低、常用于大于40μm的樣品。

    缺點：不能用于40μm以細(xì)的樣品；結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。

    顯微鏡（圖像）法： 優(yōu)點：簡單、直觀、可進(jìn)行形貌分析，適合分布窄（zui大和zui小粒徑的比值小于10：1）的樣品。

    缺點：無法分析分布范圍寬的樣品，無法分析小于1微米的樣品。

    沉降法（包括重力沉降和離心沉降）： 優(yōu)點：操作簡便，儀器可以連續(xù)運(yùn)行，價格低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好，測試范圍較大。

    缺點：測試時間較長，操作比較復(fù)雜。

    庫爾特法： 優(yōu)點：操作簡便，可測顆粒總數(shù)，等效概念明確，速度快，準(zhǔn)確性好。

    缺點：適合分布范圍較窄的樣品。

    激光法： 優(yōu)點：操作簡便，測試速度快，測試范圍大，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可進(jìn)行在線測量和干法測量。

    缺點：結(jié)果受分布模型影響較大，儀器造價較高。

    電鏡： 優(yōu)點：適合測試超細(xì)顆粒甚至納米顆粒、分辨率高。

    缺點：樣品少、代表性差、儀器價格昂貴。

    超聲波法： 優(yōu)點：可對高濃度漿料直接測量。

    缺點：分辨率較低。

    透氣法： 優(yōu)點：儀器價格低，不用對樣品進(jìn)行分散，可測磁性材料粉體。

    缺點：只能得到平均粒度值，不能測粒度分布。