資料簡(jiǎn)介
非接觸方阻測(cè)試原理
?非接觸方阻測(cè)試的原理主要基于電磁感應(yīng)原理?。當(dāng)交變電流通過(guò)一個(gè)導(dǎo)體時(shí),會(huì)產(chǎn)生一個(gè)周圍的磁場(chǎng)。如果另一個(gè)導(dǎo)體(傳感器)處于這個(gè)磁場(chǎng)中,并且相對(duì)于第一個(gè)導(dǎo)體有相對(duì)運(yùn)動(dòng)或位置變化,那么就會(huì)在第二個(gè)導(dǎo)體中感應(yīng)出電壓。通過(guò)測(cè)量這個(gè)感應(yīng)電壓,可以計(jì)算出原始導(dǎo)體的電阻值?12。
具體原理
?電磁感應(yīng)法?:當(dāng)交變電流通過(guò)一個(gè)導(dǎo)體時(shí),會(huì)產(chǎn)生一個(gè)周圍的磁場(chǎng)。如果另一個(gè)導(dǎo)體(傳感器)處于這個(gè)磁場(chǎng)中,并且相對(duì)于第一個(gè)導(dǎo)體有相對(duì)運(yùn)動(dòng),那么就會(huì)在第二個(gè)導(dǎo)體中感應(yīng)出電壓。通過(guò)測(cè)量這個(gè)感應(yīng)電壓,可以計(jì)算出原始導(dǎo)體的電阻值?12。
?電容耦合法?:利用被測(cè)物體與傳感器之間形成的電容變化來(lái)測(cè)量電阻。當(dāng)被測(cè)物體的位置或介電常數(shù)發(fā)生變化時(shí),電容值會(huì)相應(yīng)改變,通過(guò)測(cè)量電容值的變化可以間接計(jì)算出電阻值?1。
?光電耦合法?:利用光電效應(yīng)將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)來(lái)測(cè)量電阻。通過(guò)測(cè)量光在通過(guò)被測(cè)物體后的強(qiáng)度變化或相位變化,可以計(jì)算出與電阻相關(guān)的參數(shù)?1。
相關(guān)產(chǎn)品
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