JW-BK122F 長(zhǎng)石比表面積及孔徑分析儀
| 參考價(jià) | ￥ 258000 |
| 訂貨量 | ≥1 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 北京精微高博科學(xué)技術(shù)有限公司
- 品牌
- 型號(hào) JW-BK122F
- 產(chǎn)地 北京市廣安門南濱河路25號(hào)金工宏洋大廈A座802
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2015/11/24 12:15:15
- 訪問次數(shù) 556
產(chǎn)品標(biāo)簽
長(zhǎng)石比表面積儀長(zhǎng)石BET比表面積儀長(zhǎng)石全自動(dòng)比表面分析儀長(zhǎng)石比表面積及孔徑分析儀長(zhǎng)石比表面積
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JW-BK122F型 比表面及孔徑分析儀
精微高博是比表面積測(cè)定儀的廠商,精微高博比表面積測(cè)定儀一并榮獲中國(guó)*測(cè)試證書,*及CE認(rèn)證并且還有*的產(chǎn)品是通過**
精微高博比表面儀具有真空系統(tǒng)，可以進(jìn)行精確的超微孔孔徑分布測(cè)試。
比表面積測(cè)定儀功能
比表面測(cè)定： BET（單點(diǎn)、多點(diǎn)）比表面、Langmuir比表面、外表面測(cè)定；
BJH孔徑分布測(cè)定： 總孔體積、平均孔徑、孔容/孔徑的微分與積分分布；
微孔常規(guī)分析： 微孔總孔體積、總內(nèi)表面積（t-圖、D&R、MP等）
微孔孔徑分布分析： 氮分壓10-8 - 10-1范圍的等溫吸附曲線測(cè)定 0.35 - 2nm微孔孔徑分布測(cè)試（HK、FS、NLDFT法
比表面積測(cè)定儀技術(shù)參數(shù)
比表面積測(cè)定儀原理方法： 低溫氮吸附，靜態(tài)容量法
比表面積測(cè)定儀吸附氣體： 高純氮?dú)?，也可用氪、氦、二氧化碳等其他氣體
比表面積測(cè)定儀極限真空： ≤ 10-6 Pa （ 7.5×10-9 Torr）
比表面積測(cè)定儀氮?dú)夥謮海? 1×10-8 –0.995
比表面積測(cè)定儀控制精度： 測(cè)試壓力點(diǎn)控制zui小間隔可小于0.1 KPa （0.75 Torr） ，測(cè)試壓力點(diǎn)可多達(dá)一千個(gè)
多級(jí)壓力傳感器壓力測(cè)試精度達(dá)0.0001Pa （7.5×10-7 Torr）
10-8-10-1范圍測(cè)試壓力點(diǎn)大于50點(diǎn)
比表面積測(cè)定儀測(cè)試范圍： 比表面 ≥ 0.005 M2/g，無規(guī)定上限
介孔孔徑分析 2 - 400nm
微孔孔徑分析0.35 - 2nm
比表面積測(cè)定儀測(cè)試精度： ≤±1.5%
0.35-2nm 微孔zui可幾孔徑重復(fù)誤差 ≤0.01nm
比表面積測(cè)定儀測(cè)試效率： 多點(diǎn)BET比表面每樣平均20min
孔徑分析時(shí)間隨材質(zhì)不同各異
比表面積測(cè)定儀預(yù) 處 理： 兩樣品同位處理，真空低于0.1Pa, 溫度50 - 400℃，±1℃
比表面積測(cè)定儀軟件： BET（單點(diǎn)、多點(diǎn)）、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R、
HK、FS、NLDFT等
比表面積測(cè)定儀特色
◎ 比表面儀具有國(guó)內(nèi)*可以精確測(cè)定微孔孔徑分布的儀器，控制和測(cè)試精度達(dá)到*水平，
工作站數(shù)量可根據(jù)用戶要求單獨(dú)設(shè)計(jì)、制造，可以代替進(jìn)口；
◎ 比表面儀具有真空度高，比表面和孔徑分析的范圍更寬，精度更高；
◎ 比表面儀具有*的抽氣與充氣速度精密控制技術(shù)，保證了測(cè)試的準(zhǔn)確性和安全性；
◎ 比表面儀具有*的液氮面多途徑控制與校正技術(shù)，連續(xù)測(cè)試10小時(shí)也不需添加液氮；
◎ 比表面儀具有微孔常規(guī)測(cè)試有完善的標(biāo)準(zhǔn)等溫線數(shù)據(jù)庫(kù)和規(guī)范的分析方法，國(guó)內(nèi)；
◎ 比表面儀具有國(guó)內(nèi)*擁有微孔分布測(cè)試的軟件技術(shù)（HK、FS、NLDFT等）
◎ 比表面儀具有軟件功能齊全、界面友好、操作方便、實(shí)時(shí)顯示樣品的吸、脫附壓力變化及平衡過程；
◎ 比表面儀具有試驗(yàn)全過程自動(dòng)化、智能化控制，長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行可以無人職守；
靜態(tài)容量法比表面測(cè)試儀特點(diǎn)之真密度測(cè)試：
技術(shù)參數(shù)：
JW-BK系列靜態(tài)容量法比表面及孔徑分析儀，適用于各種粉體材料、固體材料等的真密度分析，*的高精度真密度測(cè)試功能，測(cè)試時(shí)間不超過3分鐘/次，連續(xù)測(cè)試次數(shù)用戶可以自行定義，zui高次數(shù)可達(dá)10次。
★ 重復(fù)性：± 0.015 %；
★ 精確度：± 0.02 %；
★ 測(cè)試分辨率：0.00001 g/cm3
公司榮譽(yù)
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中關(guān)村*協(xié)會(huì)理事單位
中國(guó)分析測(cè)試協(xié)會(huì)會(huì)員單位
北京粉體技術(shù)協(xié)會(huì)理事單位
*受*專家進(jìn)行產(chǎn)品鑒定的企業(yè)
歐盟安全體系認(rèn)定證書
中國(guó)計(jì)量研究院儀器校準(zhǔn)證書
北京市可引進(jìn)人才進(jìn)京落戶單位
公司的核心價(jià)值
發(fā)展；尊重人才與創(chuàng)新；以服務(wù)客戶為己任。
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