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發(fā)布詢價(jià)單

化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>表面/界面性能測(cè)定儀>比表面及孔徑分析儀>JW-BK112W 葉臘石比表面積儀

JW-BK112W 葉臘石比表面積儀

參考價(jià) 158000
訂貨量 ≥1
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 北京精微高博科學(xué)技術(shù)有限公司
  • 品牌
  • 型號(hào) JW-BK112W
  • 產(chǎn)地 北京市廣安門(mén)南濱河路25號(hào)金工宏洋大廈A座802
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2017/8/14 20:39:55
  • 訪問(wèn)次數(shù) 703

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                                                         北京精微高博科學(xué)技術(shù)有限公司

 

          精微高博公司致力于比表面儀的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售,是北京科委批準(zhǔn)的**。公司擁有一批材料研究、儀器儀表及計(jì)算機(jī)領(lǐng)域?qū)<壹邦檰?wèn)團(tuán)隊(duì),潛心于材料表面特性表征與測(cè)試方法的結(jié)合研究,致力于為高校、科研單位及大中型生產(chǎn)企業(yè)提供高效、精確可靠的分析測(cè)試儀器。公司主要產(chǎn)品:JW-04、JW-DA、JW-RB及JW-BK系列型比表面積及孔徑分布分析測(cè)試儀;配套產(chǎn)品有比表面積測(cè)試樣品準(zhǔn)備裝置--JW吹掃機(jī)。前兩款為本公司的新型儀器,分別采用上通用的靜態(tài)容量法,該技術(shù)達(dá)到*水平,*。同時(shí)后兩款在動(dòng)態(tài)氮分壓精確控制等技術(shù)方面又有很多新的突破和創(chuàng)新,整體設(shè)備性能無(wú)論從測(cè)試精度、穩(wěn)定性、測(cè)試結(jié)果可重復(fù)性還是測(cè)試高效性等方面都達(dá)到了同類產(chǎn)品水平,國(guó)內(nèi)處于*地位。專業(yè)、完善、及時(shí)、高效的售后服務(wù)更是得到了用戶的贊譽(yù)。

 

 

 

細(xì)心、精心、用心,品質(zhì)永保稱心—— 歡迎致電精微高博,一起邁向技術(shù)的新臺(tái)階

 

 

 

 

比表面積,BET比表面,孔隙率分析儀, 孔徑分析儀,比表面積及孔徑分析儀,比表面積及孔隙率測(cè)定儀

 JW-BK122W型 比表面及孔徑分析儀

精微高博是比表面積測(cè)定儀的廠商,精微高博比表面積測(cè)定儀一并榮獲中國(guó)*測(cè)試證書(shū),*及CE認(rèn)證并且還有*的產(chǎn)品是通過(guò)**

精微高博比表面儀具有專有的雙級(jí)真空技術(shù),多級(jí)壓力傳感器,國(guó)內(nèi)*可進(jìn)行微孔分布測(cè)試的儀器。

 

比表面積測(cè)定儀功能

比表面測(cè)定:      BET(單點(diǎn)、多點(diǎn))比表面、Langmuir比表面、外表面測(cè)定

BJH孔徑分布測(cè)定:      總孔體積、平均孔徑、孔容/孔徑的微分與積分分布

微孔常規(guī)分析:      微孔總孔體積、總內(nèi)表面積(t-圖、D&R、MP等)

微孔孔徑分布測(cè)試:    氮分壓10-7 - 10-1范圍的等溫吸附曲線測(cè)定                                           0.35-2nm微孔孔徑分布分析(HK或FS法)

比表面積測(cè)定儀真密度測(cè)試

 

比表面積測(cè)定儀技術(shù)參數(shù)

比表面積測(cè)定儀原理方法:  低溫氮吸附,靜態(tài)容量法

比表面積測(cè)定儀吸附氣體:  高純氮?dú)猓部捎秒?、氦、二氧化碳等其他氣體

比表面積測(cè)定儀極限真空:  4 - 6.7×10-3 Pa ( 3 - 5×10-5 Torr)

比表面積測(cè)定儀氮?dú)夥謮海? 4×10-7 –0.995

比表面積測(cè)定儀控制精度:  測(cè)試壓力點(diǎn)控制zui小間隔可小于0.1 KPa (0.75  Torr),測(cè)試點(diǎn)可多達(dá)一千個(gè)。

                         10-7-10-1范圍測(cè)試壓力點(diǎn)大于50點(diǎn)

比表面積測(cè)定儀測(cè)試范圍:  比表面  ≥ 0.005 M2/g,無(wú)規(guī)定上限

                         介孔孔徑分析 2 - 400nm

                         微孔孔徑分析0.35 - 2nm

比表面積測(cè)定儀測(cè)試精度:  ≤±2%

                          0.35-2nm 微孔zui可幾孔徑重復(fù)精度 ≤0.02nm

比表面積測(cè)定儀測(cè)試效率:  多點(diǎn)BET比表面每樣平均20min

                          孔徑分析時(shí)間隨材質(zhì)不同各異

比表面積測(cè)定儀預(yù) 處 理:  兩個(gè)樣品同位處理,溫度50-400℃,±1℃

比表面積測(cè)定儀軟件:  BET(單點(diǎn)、多點(diǎn))、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R、HK、FS等

 

比表面積測(cè)定儀特色

    ◎  比表面儀具有國(guó)內(nèi)*通過(guò)*技術(shù)鑒定的產(chǎn)品,控制和測(cè)試精度達(dá)到*水平;

    ◎  比表面儀具有*雙級(jí)真空系統(tǒng),測(cè)試系統(tǒng)實(shí)際真空度可達(dá)0.01Pa,P/Po達(dá)10-7,

          基本滿足了微孔測(cè)試條件;

    ◎  比表面儀具有*的抽氣與充氣速度精密控制技術(shù),保證了測(cè)試的準(zhǔn)確性和安全性;

    ◎  比表面儀具有*的液氮面多途徑控制與校正技術(shù),連續(xù)測(cè)試10小時(shí)也不需添加液氮;

    ◎  比表面儀具有完善的標(biāo)準(zhǔn)等溫線數(shù)據(jù)庫(kù)和規(guī)范的分析方法,微孔常規(guī)測(cè)試技術(shù)國(guó)內(nèi);

    ◎  比表面儀具有國(guó)內(nèi)*擁有微孔分布測(cè)試軟件技術(shù)(HK、FS等)

    ◎  比表面儀具有軟件功能齊全、界面友好、操作方便、實(shí)時(shí)顯示樣品的吸、脫附壓力變化及平衡過(guò)程;

    ◎  比表面儀具有實(shí)驗(yàn)全程自動(dòng)化、智能化控制,長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行*可以無(wú)人值守;

 

靜態(tài)容量法比表面測(cè)試儀特點(diǎn)之真密度測(cè)試:

技術(shù)參數(shù):

     JW-BK系列靜態(tài)容量法比表面及孔徑分析儀,適用于各種粉體材料、固體材料等的真密度分析,*的高精度真密度測(cè)試功能,測(cè)試時(shí)間不超過(guò)3分鐘/次,連續(xù)測(cè)試次數(shù)用戶可以自行定義,zui高次數(shù)可達(dá)10次。

★ 重復(fù)性:± 0.015 %;

★ 精確度:± 0.02 %;

★ 測(cè)試分辨率:0.00001 g/cm3

 



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