Dektak XTL 探針式輪廓儀
- 公司名稱 鉑悅儀器（上海）有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 Dektak XTL
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/1/2 12:44:07
- 訪問次數(shù) 3724
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鉑悅儀器自2004年成立以來，憑借與世界各大儀器品牌的戰(zhàn)略合作關(guān)系，以及不斷優(yōu)化公司自身經(jīng)營管理，提高服務(wù)質(zhì)量，成為中國國內(nèi)的儀器供應(yīng)商。鉑悅儀器所提供的產(chǎn)品均屬于高科技行業(yè)，產(chǎn)品包括高精度的分析儀器、檢測儀器和生產(chǎn)設(shè)備，以及配套的耗材和配件，這些產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于工業(yè)、環(huán)境、食品、生物、地質(zhì)、半導(dǎo)體、太陽能、醫(yī)藥、醫(yī)療器械、藝術(shù)考古、刑偵等各個領(lǐng)域并服務(wù)于各大院校、研究所、檢測機構(gòu)、及政府部門等。
鉑悅儀器不僅擁有高品質(zhì)的產(chǎn)品，更培養(yǎng)了專業(yè)的銷售、應(yīng)用支持和售后服務(wù)團隊。本著客戶至上的原則，從客戶的實際需求出發(fā)，鉑悅儀器為客戶提供儀器銷售，安裝培訓(xùn)，應(yīng)用支持，代檢測服務(wù)及儀器短期租賃服務(wù)等綜合解決方案，并提供持續(xù)而良好的售后服務(wù)，由此也獲得了廣大客戶的信任與認可。
企業(yè)文化Corporate Culture： CREDIT
C- Confidence: 自信
R- Responsibility: 責(zé)任心
E- Efficiency: 效率
D- Diligence: 勤奮
I- Intelligence: 機智
T- Trust: 信任
鉑悅儀器持續(xù)為您提供：儀器銷售，安裝培訓(xùn)，應(yīng)用支持，代檢測服務(wù)及儀器短期租賃服務(wù)。
行業(yè)涵蓋：
工業(yè)、環(huán)境、食品、生物、地質(zhì)、半導(dǎo)體、太陽能、醫(yī)藥、醫(yī)療器械、藝術(shù)考古、刑偵
應(yīng)用范圍：
材料成份分析（定性/定量）
大面積材料元素分布
材料表面/形貌分析
3D掃描--快速3D成像
CT--3D內(nèi)部結(jié)構(gòu)分析
太陽能IV檢測
產(chǎn)品：
-- 直讀光譜儀
-- 手持式XRF分析儀 S1 TITAN
-- 科研級手持式XRF分析儀TRACER
-- 便攜式熒光光譜儀 ELIO
-- 便攜臺式XRF分析儀 CTX
-- 微區(qū)X射線熒光光譜儀-元素掃描M4 TORNADO
-- 巖芯分析儀
-- 臺階儀、光學(xué)輪廓儀、原子力顯微鏡AFM
-- 臺式X射線熒光測厚儀
-- X射線透射系統(tǒng)/3D斷層掃描系統(tǒng) （CT ）
-- 3D掃描儀
-- 便攜式IV曲線檢測儀
巖芯分析儀，微區(qū)X射線熒光光譜儀，直讀光譜儀,手持式合金分析儀;Bruker臺階儀,光學(xué)輪廓儀,摩擦磨損儀,原子力顯微鏡;膜厚儀，藝術(shù)與考古分析儀
- 【電子檢測】臺階儀在晶圓測試的應(yīng)用09月14日
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,綜合 |
探針式輪廓儀是一種用于化學(xué)、材料科學(xué)、電子與通信技術(shù)、化學(xué)工程領(lǐng)域的分析儀器。分析樣品表面大尺寸三維形貌，探測樣品厚度。
布魯克公司的新型DektakXTL探針式輪廓儀系統(tǒng)可容納多大350mm*350mm的樣品，將Dektak有意的可重復(fù)性和再現(xiàn)性應(yīng)用于大尺寸晶片及面板制造業(yè)。DektakXTL集成氣體隔振裝置和方便的交互鎖裝置使儀器在全封閉工作環(huán)境下運行，是當(dāng)今要求苛刻的生產(chǎn)環(huán)境的理想之選。它的雙攝像頭設(shè)置使空間感增強，其高水平自動化可生產(chǎn)量。
探針式輪廓儀系統(tǒng)DektakXTL產(chǎn)品特性
一、Bruker公司的雙攝像頭控制系統(tǒng)
1.通過點擊實時視頻更快鎖定到關(guān)注點
2.通過選擇實時視頻中的兩個點快速定位樣品（自動旋轉(zhuǎn)使連線水平）
3.通過在實時視頻中點擊掃描起始和結(jié)束位置簡化測量設(shè)置（教學(xué)）
二、自動化設(shè)置和操作
1.借助300毫米的自動化編碼XY工作臺以及360度旋轉(zhuǎn)能力，編程控制無限制測量位置。
2.利用帶圖形識別功能的Vision64位產(chǎn)品軟件減少使用中的定位偏差
3.將自定義用戶提示以及其它元數(shù)據(jù)編入您的方案中，并存儲到數(shù)據(jù)庫內(nèi)
三、方便的分析和數(shù)據(jù)采集
1.快速分析儀支持大部分常用分析方法，可輕松實現(xiàn)分析程序自動化
2.通過臺階檢測功能將分析集中于復(fù)雜樣品上感興趣的特征
3.通過賦予每個測量點名稱并自動記錄到數(shù)據(jù)庫來簡化數(shù)據(jù)分析
4.Dektak在大樣品制造業(yè)中的傳奇性能
四、業(yè)界自動分析軟件
新增軟件功能使DektakXTL成為市面上易使用的探針式輪廓儀。系統(tǒng)使用的Vision64軟件,與Bruker公司的光學(xué)輪廓儀*兼容。Vision64軟件可以進行樣品任何位置測量、3D繪圖以及借助數(shù)百個內(nèi)置分析工具實現(xiàn)的高度定制表征方法。也可以使用VisionMicroform軟件來測量曲率半徑等形狀。
五、探針式檢測技術(shù)
圖形識別功能可以盡量減少操作員誤差并測量位置精度。在同一軟件包內(nèi)，以直觀流程進行數(shù)據(jù)采集和2D、3D分析。每個系統(tǒng)都帶有Vision軟件許可證，可在裝有Windows7操作系統(tǒng)的個人電腦上安裝，用戶可在電腦桌面上創(chuàng)建數(shù)據(jù)分析和報告。
DektakXTL擁有超過40年的探針經(jīng)驗和軟件定制生產(chǎn)經(jīng)驗，符合現(xiàn)在和未來的嚴(yán)格的行業(yè)發(fā)展藍圖。
應(yīng)用
一、晶片應(yīng)用： 二、大型基板應(yīng)用：
沉積薄膜（金屬、有機物）的臺階高度 印刷電路板（凸起、臺階高度）
抗蝕劑（軟膜材料）的臺階高度 窗口涂層
蝕刻速率測定 晶片掩模
化學(xué)機械拋光（腐蝕，凹陷，彎曲） 晶片卡盤涂料
拋光板
三、玻璃基板及顯示器應(yīng)用： 四、柔性電子器件薄膜：
AMOLED 有機光電探測器
液晶屏研發(fā)的臺階步級高度測量 印于薄膜和玻璃上的有機薄膜
觸控面板薄膜厚度測量 觸摸屏銅跡線
太陽能涂層薄膜測量
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