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DektakXT 臺(tái)階儀-表面輪廓儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 鉑悅儀器(上海)有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào) DektakXT
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時(shí)間 2024/1/2 9:53:27
  • 訪問(wèn)次數(shù) 9766

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鉑悅儀器自2004年成立以來(lái),憑借與世界各大儀器品牌的戰(zhàn)略合作關(guān)系,以及不斷優(yōu)化公司自身經(jīng)營(yíng)管理,提高服務(wù)質(zhì)量,成為中國(guó)國(guó)內(nèi)的儀器供應(yīng)商。鉑悅儀器所提供的產(chǎn)品均屬于高科技行業(yè),產(chǎn)品包括高精度的分析儀器、檢測(cè)儀器和生產(chǎn)設(shè)備,以及配套的耗材和配件,這些產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于工業(yè)、環(huán)境、食品、生物、地質(zhì)、半導(dǎo)體、太陽(yáng)能、醫(yī)藥、醫(yī)療器械、藝術(shù)考古、刑偵等各個(gè)領(lǐng)域并服務(wù)于各大院校、研究所、檢測(cè)機(jī)構(gòu)、及政府部門等。

鉑悅儀器不僅擁有高品質(zhì)的產(chǎn)品,更培養(yǎng)了專業(yè)的銷售、應(yīng)用支持和售后服務(wù)團(tuán)隊(duì)。本著客戶至上的原則,從客戶的實(shí)際需求出發(fā),鉑悅儀器為客戶提供儀器銷售,安裝培訓(xùn),應(yīng)用支持,代檢測(cè)服務(wù)及儀器短期租賃服務(wù)等綜合解決方案,并提供持續(xù)而良好的售后服務(wù),由此也獲得了廣大客戶的信任與認(rèn)可。

企業(yè)文化Corporate Culture: CREDIT

C- Confidence: 自信

R- Responsibility: 責(zé)任心

E- Efficiency: 效率

D- Diligence: 勤奮

I- Intelligence: 機(jī)智

T- Trust: 信任

鉑悅儀器持續(xù)為您提供:儀器銷售,安裝培訓(xùn),應(yīng)用支持,代檢測(cè)服務(wù)及儀器短期租賃服務(wù)。

行業(yè)涵蓋:

工業(yè)、環(huán)境、食品、生物、地質(zhì)、半導(dǎo)體、太陽(yáng)能、醫(yī)藥、醫(yī)療器械、藝術(shù)考古、刑偵

應(yīng)用范圍:

材料成份分析(定性/定量)
大面積材料元素分布
材料表面/形貌分析
3D掃描--快速3D成像
CT--3D內(nèi)部結(jié)構(gòu)分析
太陽(yáng)能IV檢測(cè)

產(chǎn)品:

-- 直讀光譜儀
-- 手持式XRF分析儀 S1 TITAN
-- 科研級(jí)手持式XRF分析儀TRACER
-- 便攜式熒光光譜儀 ELIO
-- 便攜臺(tái)式XRF分析儀 CTX
-- 微區(qū)X射線熒光光譜儀-元素掃描M4 TORNADO
-- 巖芯分析儀
-- 臺(tái)階儀、光學(xué)輪廓儀、原子力顯微鏡AFM
-- 臺(tái)式X射線熒光測(cè)厚儀
-- X射線透射系統(tǒng)/3D斷層掃描系統(tǒng) (CT )
-- 3D掃描儀
-- 便攜式IV曲線檢測(cè)儀

 

 

 

 

 

巖芯分析儀,微區(qū)X射線熒光光譜儀,直讀光譜儀,手持式合金分析儀;Bruker臺(tái)階儀,光學(xué)輪廓儀,摩擦磨損儀,原子力顯微鏡;膜厚儀,藝術(shù)與考古分析儀

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 電子 探針尖半徑 50nm~25um
臺(tái)階高度重復(fù)性 測(cè)量重復(fù)性可以到5? 1? 測(cè)量樣品最大尺寸 50mm

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德國(guó)布魯克DektakXT臺(tái)階儀探針式表面輪廓儀)可以提供更高的重復(fù)性和分辨率,測(cè)量重復(fù)性可以到5?。臺(tái)階儀這項(xiàng)性能的到了過(guò)去四十年Dektak技術(shù),更加鞏固了其行業(yè)。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測(cè)量,通過(guò)在研究工作中的廣泛使用,DektakXT能夠做到功能更強(qiáng)大,操作更簡(jiǎn)易,檢測(cè)過(guò)程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺(tái)階儀(探針式表面輪廓儀)的技術(shù),使納米尺度的表面輪廓測(cè)量成為可能,從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件,半導(dǎo)體,電池,高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。

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   臺(tái)階儀DektakXT能實(shí)現(xiàn):

   1、 使用溫度條件:10-30℃;

   2、很好的性能,臺(tái)階高度重現(xiàn)性低于4埃

   3、Single-arch設(shè)計(jì)提供掃描穩(wěn)定性

   4、的“智能電子器件”設(shè)立了新低噪音基準(zhǔn)

   5、新硬件配置使數(shù)據(jù)采集時(shí)間縮短

   6、64-bit,Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件,使數(shù)據(jù)分析速度高了10倍

   7、頻率,操作簡(jiǎn)易

   8、直觀的Vision64用戶界面,操作簡(jiǎn)易

   9、針尖自動(dòng)校準(zhǔn)系統(tǒng)

   10、布魯克(Bruker)以實(shí)惠的配置實(shí)現(xiàn)高的性能

   11、單傳感器設(shè)計(jì),提供單一平面上低作用和寬掃描范圍

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      建立在40多年的探針輪廓技術(shù)的知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)薄膜測(cè)試儀,在基于微處理器的輪廓儀,和300mm自動(dòng)輪廓儀DektakXT繼承了以往的。新的DektakXT是single-arch設(shè)計(jì)的探針輪廓儀,內(nèi)置真彩高清光學(xué)攝像機(jī),及安裝64-bit并行處理架構(gòu)已獲得測(cè)量及操作效率的探針輪廓儀

當(dāng)需要臺(tái)階高度、表面粗糙度、測(cè)量時(shí),人們就會(huì)借助Dektak。引進(jìn)DektakXT,Bruker能讓您進(jìn)一步獲得表面測(cè)量



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數(shù)據(jù)采集和分析速度
  直接驅(qū)動(dòng)掃描平臺(tái),Dektak XT減少了掃描間的時(shí)間,而沒(méi)有影響分辨率和背景噪聲。這一改進(jìn)大范圍掃描3D形貌或者對(duì)于表面應(yīng)力長(zhǎng)程掃描(就探針輪廓儀而言,通常是耗時(shí)的)的掃描速度。在行業(yè)的質(zhì)量和重現(xiàn)性前提下,DektakXT可以將數(shù)據(jù)采集處理的速度。另外,DektakXT采用Bruker64-bit數(shù)據(jù)采集分析同步操作軟件Vision64,它可以大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度,并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描是的數(shù)據(jù)分析。Vision64還具有行業(yè)內(nèi)的直觀用戶界面,簡(jiǎn)化了實(shí)驗(yàn)操作設(shè)置,自動(dòng)完成多掃描模式,讓重復(fù)和常規(guī)的實(shí)驗(yàn)操作變得更快速簡(jiǎn)潔。

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