ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡
- 公司名稱 北京儀光科技有限公司
- 品牌 ZEPTOOLS/澤攸科技
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/11/13 9:00:24
- 訪問(wèn)次數(shù) 1033
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西班牙Sensofar共聚焦白光干涉儀、澤攸臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析、徠卡等光學(xué)顯微鏡、RMC超薄切片機(jī)、Linkam冷熱臺(tái)
產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡信號(hào)采集帶寬高達(dá)10M,掃描速度快,視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品,無(wú)重影、拖影,不錯(cuò)過(guò)每一個(gè)細(xì)節(jié)。兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺(tái)(拉伸臺(tái)、加熱臺(tái)、TEC冷臺(tái)等原位測(cè)試系統(tǒng))。
ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡參數(shù):
環(huán)境要求:AC 220V,50Hz,1kW,無(wú)需減震臺(tái)
加速電壓:3kV~18kV連續(xù)可調(diào),1kV步進(jìn)
電子槍?zhuān)侯A(yù)對(duì)中鎢燈絲,一體式聚光鏡,無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)物鏡光闌
放大倍數(shù):500 --150000倍
探測(cè)器:二次電子探測(cè)器、四分割背散射電子探測(cè)器、集成式能譜儀
樣品臺(tái)行程:XY 兩軸電動(dòng) 行程:30 mm×30 mm
樣品尺寸:Φ50×35(H)mm
工作距離:5-35mm
真空模式
高真空模式:抽真空時(shí)間小于90s
低真空模式:選配,低真空1-100Pa自動(dòng)控制
成像模式
視頻模式:512x 512像素,無(wú)需小窗口掃描;
快速模式:掃描時(shí)間小于3秒,512 x 512像素;
慢掃模式:掃描時(shí)間小于40秒,2048 × 2048像素;
圖像格式:BMP, TIFF,JPEG,PNG
導(dǎo)航功能:光學(xué)CCD導(dǎo)航
自動(dòng)功能:一鍵自動(dòng)配置亮度、對(duì)比度、聚焦
尺寸:主機(jī)283×553×505 mm 機(jī)械泵340×160×140 mm
拓展功能:兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺(tái)(拉伸臺(tái)、加熱臺(tái)、TEC冷臺(tái)等原位測(cè)試系統(tǒng))
產(chǎn)品特色
操作簡(jiǎn)便: 僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作,一體式聚光鏡,無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)光闌
成像快速: 抽真空時(shí)間小于90s,
顯示流暢: 信號(hào)采集帶寬高達(dá)10M,掃描速度快,視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品,無(wú)重影、拖影,不錯(cuò)過(guò)每一個(gè)細(xì)節(jié)
信號(hào)多樣: 二次電子探測(cè)器、四分割背散射電子探測(cè)器、集成式能譜儀等多種探測(cè)器。(SE+BSE模式:同時(shí)采集,任意疊加)
性能突出:加速電壓連續(xù)可調(diào),選配低真空模式,適應(yīng)多種類(lèi)型樣品和原位測(cè)試功能
體積小巧:無(wú)需特裝設(shè)備間和額外減震臺(tái),常規(guī)市電即插即用
原位拓展:豐富的原位拓展功能,可兼容自研原位電鏡附件(拉伸樣品臺(tái)、加熱臺(tái)、TEC冷臺(tái)等)
售后無(wú)憂: 國(guó)內(nèi)自主研發(fā),提供完備的高性價(jià)比售后服務(wù)。廠家在北京、上海、安徽、東莞等多個(gè)辦事處提供樣機(jī)demo服務(wù)。
產(chǎn)品附件:
(1)拉伸臺(tái)
技術(shù)參數(shù):
(2)TEC冷臺(tái)
技術(shù)參數(shù):
1、溫度范圍:-60℃--50℃
2、功率:~45W
3、控溫精度:±0.01℃
4、高精度溫控儀,搭配相應(yīng)軟件,數(shù)據(jù)可一鍵導(dǎo)出
應(yīng)用案例:
原材料檢測(cè) 工業(yè)檢測(cè)
電子元器件檢測(cè) 其他樣檢測(cè)