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MDPmap-1MDPmap單晶和多晶硅片壽命測量儀PX 3100
MDPlinescan-1MDPlinescan在線少子壽命測試儀PX 3100
MDPspot-1MDPspot少子壽命測試儀PX 3100
PIDStudioPID操作軟件PX 3100
PID Check便攜式現(xiàn)場PID測試儀PX 3100
PIDcon bifacial臺式雙面電池PID測試儀PX 3100
德國Freiberg--MDPproMDPpro晶圓片/晶錠壽命檢測儀--少子壽命PX 3100
Freiberg--MDPmapMDPmap晶圓片壽命檢測儀--少子壽命測試PX 3100
弗萊貝格--MDPlinescanMDP在線晶圓片/晶錠點掃或面掃檢測儀PX 3100
Freiberg--MDPinlineMDP高速晶圓片在線面檢測儀--少子壽命檢測PX 3100
Freiberg--MDPinline ingotMDP晶錠在線面掃檢測儀--進口少子壽命測試PX 3100
Freiberg-MDPictsMDP微波探測光誘導(dǎo)電流瞬態(tài)譜儀--少子壽命PX 3100
WD4000高精度晶圓厚度幾何量測系統(tǒng)PX 4968
吉時利KEITHLEY 4200A-SCS半導(dǎo)體參數(shù)分析儀PX 2750
是德KEYSIGHT B1500A半導(dǎo)體器件參數(shù)分析儀PX 2750
ZC1681B-ST多路揚聲器壽命測試儀PX 5057
ZC5806多路揚聲器壽命測試儀PX 5057
ZC5860揚聲器可靠性試驗系統(tǒng)PX 5057
ZC1681B-M微型振動電機壽命測試儀PX 5057
ZC5850多路直流電機壽命試驗儀PX 5057
ZC5840微型電機壽命測試儀PX 5057
日本巖崎IWATSU半導(dǎo)體曲線圖示儀CS-5300PX 2750
管式PECVD 科研型擴散氧化爐 單晶硅PX 0
LST體微缺陷測試設(shè)備PX 2905
LEIModel1605非接觸遷移率測試系統(tǒng)PX 2905
LEI88非接觸方塊電阻測試系統(tǒng)PX 2905
非接觸Hall和方塊電阻測試系統(tǒng)PX 2905
SRP 擴展電阻測試PX 2905
準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)-光致發(fā)光測試設(shè)備PX 2905
WT-2000PL光致發(fā)光檢測設(shè)備PX 2905
PV-2000A 光伏多功能掃描系統(tǒng)PX 2905
LEI Model2017B汞探針測試PX 2905
汞CV測試系統(tǒng)PX 2905
CV-1500非接觸CV測試系統(tǒng)PX 2905
少子壽命/ μ LBIC變溫測試系統(tǒng)PX 2905
WT-2000半導(dǎo)體多功能測試PX 2905
WT-1200A 單點式少子壽命測試系統(tǒng)PX 2905
半導(dǎo)體參數(shù)分析儀PX 2905
電力測試線包PX 3123
電力測試導(dǎo)線包CSXPX 3123
薄膜生長設(shè)備
工藝測量和檢測設(shè)備
集成電路測試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
硅片制備/晶體生長設(shè)備
掩模版和中間掩模版制造設(shè)備
離子注入設(shè)備
干法工藝設(shè)備
濕法工藝設(shè)備
組裝與封裝設(shè)備
其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
晶圓幾何形貌量測機
Horiba汽化器MV-2000 液體轉(zhuǎn)氣體流量計
Horiba直接注入式汽化器VC-1420
PTC循環(huán)老化壽命測試系統(tǒng)
日本HOBIBA堀場進口全新晶圓背面冷卻系統(tǒng)
HOBIBA堀場玉科日本全新晶圓背面冷卻系統(tǒng)
高精度晶圓厚度幾何量測系統(tǒng)
SPV表面光電壓方阻測試
MURAKAMI村上技研 AE型磨削間隙消除器
半導(dǎo)體電橡塑材料體積電阻率試驗儀
日本KYOWA共和帶保護殼箔式應(yīng)變片
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學(xué)儀器有限公司
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