進口烤膠機 參考價：面議
這款進口烤膠機采用桌面加熱板技術(shù),廣泛用于晶圓光刻膠真空烘焙和晶圓烘膠。精密數(shù)字溫度控制器可實現(xiàn)1°C至230°C的溫度可調(diào),適用于軟烘焙和...
進口甩膠機 參考價：面議
進口甩膠機SPIN200i是200mm單片甩膠機SPIN COATER,專為MEMS、半導(dǎo)體、光伏、微流體等領(lǐng)域的研發(fā)和小批量生產(chǎn)而設(shè)計，適用于所有典型的旋涂工...
離子污染測試儀 參考價：面議
離子污染測試儀盡管通常被稱為“清潔度測試"，但Contanamimeter實際上是一種用于測量離子污染的工具。
可焊性測試儀 參考價：面議
可焊性測試儀能夠測量0.001mN，是世界上同類可焊測試系統(tǒng)中精確、設(shè)備全面的可焊接測試系統(tǒng)。
三維表面形貌儀 參考價：面議
這款三維表面形貌儀是德國進口的高精度多功能表面輪廓測量儀器，也是一款光學(xué)表面形貌儀,非常適合對表面幾何形狀和表面紋理分析，以標準方案或定制性方案對二維形貌或三維...
三維表面輪廓儀 參考價：面議
這款三維表面輪廓儀是德國進口的高精度多功能表面輪廓測量儀器，也是一款光學(xué)輪廓儀,非常適合對表面幾何形狀和表面紋理分析，以標準方案或定制性方案對2D輪廓或三維輪廓...
光伏太陽能光譜橢偏儀 參考價：面議
這款光伏太陽能光譜橢偏儀是專業(yè)為光伏太陽能領(lǐng)域的薄膜測量而開的手動光伏橢偏儀，這款為光伏薄膜測量研究提供便利，具有實時測量薄膜厚度和薄膜厚度繪圖的*功能。它采用...
大型光譜橢偏儀 參考價：面議
大型光譜橢偏儀SE200BM-M450具有450mm直徑樣品臺，提供更為安全的樣品操作和定位，具有250-850nm的波長范圍，是美國Angstrom公司為大尺...
反射式光譜橢偏儀 參考價：面議
這款反射式光譜橢偏儀MSP具有250-1000nm的波長范圍，可與顯微分光光度計聯(lián)合使用，測量極小斑點的薄膜厚度和折射率，可廣泛用于MEMS，半導(dǎo)體晶圓等領(lǐng)域,...
自動光譜橢偏儀 參考價：面議
這款自動光譜橢偏儀M300是一種自動變角光譜橢偏儀和深紫外光譜橢偏儀,具有250-1100nm的波長范圍，并具有自動改變?nèi)肷浣堑墓δ?。自動spectroscop...
太陽能電池i-v測試系統(tǒng) 參考價：面議
太陽能電池i-v測試系統(tǒng)是專業(yè)為光伏器件特性測量設(shè)計的太陽能電池i-v測量系統(tǒng)。測量太陽能電池的電流-電壓曲線，然后自動計算關(guān)鍵器件屬性。此外，I-V測量可以隨...
四點探針系統(tǒng) 參考價：面議
這款四點探針系統(tǒng)用于快速測量材料的片電阻、電阻率和電導(dǎo)率。系統(tǒng)包括一個四點探針、源測量單元和易于使用的PC軟件。不適用于測量形成天然絕緣氧化物（如硅）的材料的性...
太陽能電池I-V測試儀 參考價：面議
太陽能電池I-V測試儀能夠高精度高效率地測量太陽能I-V曲線和Suns-Voc數(shù)據(jù)，可高精度測量傳統(tǒng)太陽能電池和背接觸太陽能電池。
Suns-Voc后擴散測試儀 參考價：面議
Suns-Voc后擴散測試儀是Suns-Voc后擴散過程控制的理想儀器，適合用于漿料燒結(jié)優(yōu)化和過程控制。
高分辨率晶圓厚度測試儀 參考價：面議
高分辨率晶圓厚度測試儀能夠高精度測量硅晶圓厚度和硅晶圓厚度變化,分辨率高達10nm,可滿足不同的晶圓厚度范圍。
飛秒激光微加工機床 參考價：面議
飛秒激光微加工機床是工藝級飛秒激光精細加工機床,廣泛用于工業(yè)鉆孔,蝕刻,切割,打標等應(yīng)用。
彈丸跟蹤系統(tǒng) 參考價：面議
彈丸跟蹤系統(tǒng)采用適合高速攝影和測量的直線高速追蹤技術(shù),非常適合高速運動目標的追蹤。
光電跟蹤系統(tǒng) 參考價：面議
這款光電跟蹤系統(tǒng)采用適合高速攝影和測量的高速直線追蹤技術(shù),非常適合高速運動目標的追蹤。
微探針系統(tǒng) 參考價：面議
這款微探針系統(tǒng)micro probe是為材料光學(xué)特性和電特性測試設(shè)計的納米級微納探針儀器,可以結(jié)合顯微鏡,光譜儀等儀器在各種環(huán)境條件下現(xiàn)場測試材料電學(xué)和光學(xué)特性...
納米操縱系統(tǒng) 參考價：面議
納米操縱系統(tǒng)采用納米探針模塊nanoprober為顯微鏡或電鏡下微納操作提供納米級微操縱方案,非常適合SEM和各種電鏡樣品微操作使用
激光故障注入系統(tǒng) 參考價：面議
激光故障注入系統(tǒng)是為集成電路安全性評估設(shè)計的高精度laser fault injection系統(tǒng)和激光故障注入顯微鏡,方便對集成電路進行激光故障注入測試分析
光子輻射顯微鏡 參考價：面議
光子輻射顯微鏡是為集成電路失效分析設(shè)計的Photoemission光子輻射定位系統(tǒng),,可采集集成電路背部發(fā)射的紅外光子,觀察分析半導(dǎo)體的光子輻射,進而對半導(dǎo)體集...
熱激光激發(fā)顯微鏡 參考價：面議
熱激光激發(fā)顯微鏡采用Thermal Laser Stimulation - TLS技術(shù),配備高清光學(xué)顯微鏡和高功率激光器,高精度聚焦定位集成電路板元器件進行失效...
高功率光纖激光放大器 參考價：面議
這款高功率光纖激光放大器采用摻Y(jié)b微結(jié)構(gòu)光纖技術(shù)和全固態(tài)激光設(shè)計,結(jié)構(gòu)緊湊而具有良好的激光穩(wěn)定性,適合搭建光纖激光放大實驗。
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