光學(xué)鍍膜檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
光學(xué)鍍膜檢測(cè)儀PHOTON RT UV-VIS-MWIR是為光學(xué)鍍膜分析檢測(cè)設(shè)計(jì)的鍍膜掃描分光光度計(jì),滿足光學(xué)樣品的無人值守薄膜測(cè)量。測(cè)量基片上同一區(qū)域的透射率...
聚合物薄膜測(cè)厚儀,進(jìn)口膜厚儀 參考價(jià)：面議
聚合物薄膜測(cè)厚儀用于測(cè)量polymer films(聚合物薄膜、有機(jī)薄膜、高分子薄膜）和 photoresist films （光致抗蝕劑薄膜, 光刻膠膜,光刻...
鏡片透光率測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
鏡片透光率測(cè)試儀是一款眼鏡鏡片透光率測(cè)量?jī)x器,廣泛用于薄膜透光率測(cè)試,比如LED擴(kuò)散板透光率測(cè)試,鏡頭透光率測(cè)試,玻璃透過率測(cè)試,隔熱紙材料透過率測(cè)試。
進(jìn)口光學(xué)膜厚儀 參考價(jià)：面議
光學(xué)膜厚儀是一款臺(tái)式光學(xué)薄膜測(cè)厚儀,可測(cè)量薄膜厚度,測(cè)量薄膜吸收率,測(cè)量薄膜透過率,測(cè)量薄膜反射率,測(cè)量薄膜熒光,也可測(cè)量膜層厚度,測(cè)量薄膜光學(xué)常量折射率n和k...
顯微分光光度計(jì)薄膜測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
顯微分光光度計(jì)是多功能顯微薄膜測(cè)厚測(cè)量?jī)x,結(jié)合顯微鏡測(cè)量薄膜吸收率,透過率,反射率以及薄膜熒光，通過測(cè)量薄膜反射率快速測(cè)量薄膜厚度,測(cè)量薄膜光學(xué)常量(n &k)...
光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
高精度光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)量?jī)x是六軸電動(dòng)MTF測(cè)試儀器,軟件控制MTF測(cè)試分析,滿足有限/有限對(duì)象/圖像共軛光學(xué)測(cè)量應(yīng)用。
法拉第屏蔽箱 參考價(jià)：面議
法拉第屏蔽箱采用法拉第籠,Faraday Cage原理,是降低電磁干擾的有效法拉第箱和電磁屏蔽箱，非常適合電磁敏感或電磁干擾嚴(yán)重的儀器實(shí)驗(yàn)屏蔽電磁干擾使用,比如...
進(jìn)口法拉第罩殼 參考價(jià)：面議
法拉第罩殼采用法拉第籠,Faraday Cage原理,是降低電磁干擾的有效設(shè)備，非常適合電磁敏感或電磁干擾嚴(yán)重的儀器實(shí)驗(yàn)屏蔽電磁干擾使用。
磁場(chǎng)屏蔽消磁儀 參考價(jià)：面議
這款磁場(chǎng)屏蔽消磁儀MK-1用于MRI核磁共振和生物磁應(yīng)用的單軸磁場(chǎng)消除和電磁噪音屏蔽消除,非常適合當(dāng)磁場(chǎng)傳感器不能放置在屏蔽空間內(nèi)的應(yīng)用。
薄膜厚度均勻性測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
這款薄膜厚度均勻性測(cè)量?jī)x采用光譜反射計(jì)技術(shù)測(cè)量整個(gè)樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數(shù)，獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數(shù)。
薄膜厚度繪圖儀mapping 參考價(jià)：面議
這款薄膜厚度繪圖儀采用光譜反射儀技術(shù)測(cè)量整個(gè)樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數(shù)，對(duì)整個(gè)面積上的薄膜厚度繪圖獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數(shù)
手持式薄膜測(cè)厚儀,薄膜厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
這款手持式薄膜測(cè)厚儀是便攜式光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x,用于透明或半透明單層薄膜或膜系的薄膜厚度測(cè)量,薄膜吸收率測(cè)量,薄膜透過率測(cè)量,薄膜反射率測(cè)量,薄膜熒光測(cè)量等，這...
光學(xué)膜厚儀,光學(xué)薄膜測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
寬帶光學(xué)膜厚儀是一款臺(tái)式光學(xué)薄膜測(cè)厚儀,可測(cè)量薄膜厚度,測(cè)量薄膜吸收率,測(cè)量薄膜透過率,測(cè)量薄膜反射率,測(cè)量薄膜熒光,也可測(cè)量膜層厚度,測(cè)量薄膜光學(xué)常量折射率n...
顯微薄膜測(cè)量?jī)x,進(jìn)口膜厚儀 參考價(jià)：面議
這款顯微薄膜測(cè)量?jī)x是一款多功能薄膜測(cè)厚儀和顯微分光光度計(jì)，可以結(jié)合顯微鏡測(cè)量薄膜吸收率,測(cè)量薄膜透過率,測(cè)量薄膜反射率以及測(cè)量薄膜熒光。這款顯微薄膜測(cè)試儀通過測(cè)...
光學(xué)薄膜測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
這款光學(xué)薄膜測(cè)厚儀采用光譜反射計(jì)技術(shù)測(cè)量薄膜反射光譜進(jìn)測(cè)量薄膜厚度和測(cè)量薄膜折射率等參數(shù)，非常適合日常已知膜系膜堆測(cè)量。
進(jìn)口大型晶圓探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
大型晶圓探針臺(tái)600LS是專業(yè)為300mm晶圓測(cè)試設(shè)計(jì)的大尺寸晶圓測(cè)試探針臺(tái)系統(tǒng),廣泛用于6''晶圓,8''晶圓和12''晶圓探針測(cè)試應(yīng)用。
磁場(chǎng)低溫探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
磁場(chǎng)低溫探針臺(tái)采用MicroXact低溫磁探針臺(tái)技術(shù),滿足電磁鐵、超導(dǎo)磁體或電磁鐵和超導(dǎo)磁體的組合測(cè)試應(yīng)用。
進(jìn)口無氦低溫探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
無氦低溫探針臺(tái)CPS-CF是為極低溫探針測(cè)試設(shè)計(jì)的閉循環(huán)低溫探針臺(tái)系統(tǒng),適合低溫下對(duì)器件和電路進(jìn)行探針測(cè)試。
半自動(dòng)真空探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款半自動(dòng)真空探針臺(tái)SPS-2600-VAC和SPS-2800-VAC系列是MicroXact的真空探針系統(tǒng)，設(shè)計(jì)用于支持在真空或受控氣體環(huán)境中對(duì)多達(dá)100mm...
磁探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款磁探針臺(tái)可提供三維磁場(chǎng)控制,滿足磁性控制RF探針測(cè)試應(yīng)用.作為磁場(chǎng)探針臺(tái)實(shí)現(xiàn)了平面磁場(chǎng)的任意操控,方便自旋電子器件探針測(cè)試.
進(jìn)口高溫探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款高溫探針臺(tái)是為高溫環(huán)境器件測(cè)試或真空環(huán)境或氣體環(huán)境器件探針臺(tái)分析測(cè)試而設(shè)計(jì)。
閉循環(huán)低溫真空探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款閉循環(huán)低溫真空探針臺(tái)是半自動(dòng)低溫真空探針臺(tái),可在低溫單CCR系統(tǒng)9K，雙CCR系統(tǒng)4.5K和三CCR系統(tǒng)低于4K溫度下測(cè)試經(jīng)驗(yàn)和器件。
進(jìn)口半自動(dòng)探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款半自動(dòng)探針臺(tái)廣泛用作電動(dòng)分析探針臺(tái)和半自動(dòng)晶圓探針臺(tái),可測(cè)試200mm晶圓,采用重型多功能探針臺(tái)平臺(tái)制造,配置靈活多樣,具有加熱制冷晶圓夾盤chuck,體式...
進(jìn)口晶圓測(cè)試探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款手動(dòng)型晶圓探針臺(tái)廣泛用作分析探針臺(tái)和RF探針臺(tái),可測(cè)試200mm晶圓,性價(jià)比高,配置靈活多樣,具有加熱型晶圓夾盤chuck,體式顯微鏡,RF屏蔽箱等諸多配件...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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