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目錄:孚光精儀(中國(guó))有限公司>>光學(xué)成像系統(tǒng)>>輻射監(jiān)測(cè)儀>> FP-EISiXSi(Li)探測(cè)器, 鋰漂移硅檢測(cè)器

Si(Li)探測(cè)器, 鋰漂移硅檢測(cè)器
  • Si(Li)探測(cè)器, 鋰漂移硅檢測(cè)器
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 孚光精儀
  • 型號(hào) FP-EISiX
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 所在地 上海市
屬性

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更新時(shí)間:2024-12-23 16:07:26瀏覽次數(shù):996評(píng)價(jià)

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Si(Li)探測(cè)器, 鋰漂移硅檢測(cè)器SiLi探測(cè)器是專業(yè)為X射線分析和探測(cè)而設(shè)計(jì)的一種電子制冷的硅鋰探測(cè)器,不需要液氮制冷,因此可隨時(shí)便攜到現(xiàn)場(chǎng)使用,SiLi探測(cè)器非常適合各種X射線熒光分析儀,X射線光譜儀和X射線衍射儀等使用。

Si(Li)探測(cè)器, 漂移檢測(cè)器SiLi探測(cè)器是專業(yè)為X射線分析和探測(cè)而設(shè)計(jì)的一種電子制冷的硅鋰探測(cè)器,不需要液氮制冷,因此可隨時(shí)便攜到現(xiàn)場(chǎng)使用,SiLi探測(cè)器非常適合各種X射線熒光分析儀,X射線光譜儀和X射線衍射儀等使用。
Si(Li)探測(cè)器, 漂移檢測(cè)器特色:

不需要液氮冷卻    
高能量分辨率
超薄鈹窗      
任何空間方位都可探測(cè)
斷電后的自動(dòng)重啟 
長(zhǎng)期持續(xù)工作能力
輕質(zhì)緊湊設(shè)計(jì),方便攜帶
Si(Li)探測(cè)器, 鋰漂移硅檢測(cè)器

Si(Li)探測(cè)器, 漂移檢測(cè)器組成
SiLi探測(cè)器
氣體連線

Si(Li)探測(cè)器, 漂移檢測(cè)器參數(shù)
能量范圍:1-60KeV
探測(cè)單元面積:20mm2 (可根據(jù)用戶要求提供60mm^2面積的探測(cè)單元面積)
能量分辨率:能量為5.9keV時(shí)的分辨率:

■ 16μs的成峰時(shí)間:138keV
■ 1μs的成峰時(shí)間:268keV
■ 記數(shù)率為105cps,成峰時(shí)間1μs:275keV

峰值/背景比:>4000
制冷時(shí)間:3小時(shí)
工作模式:連續(xù)工作
環(huán)境溫度:-5~38攝氏度
探測(cè)單元尺寸重量:80x135x150mm, 1.8kg
壓縮器尺寸重量:140x160x300mm, 7.5kg
功耗:60W
電源要求:200V AC, 50Hz

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