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北京恒奧德儀器儀表有限公司
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顯微顆粒圖像粒度儀有什么優(yōu)勢?

時間:2024-1-4閱讀:1207
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顯微顆粒圖像粒度儀,顯微圖像采集系統(tǒng) 型號:HAD-TT180

HAD-TT180顯微顆粒圖像粒度儀是推出的新一代顆粒圖像分析設(shè)備,HAD-TT180采用最新的工業(yè)級顯微圖像采集系統(tǒng),使樣品觀測更加清晰。分析軟件系統(tǒng)能夠?qū)悠返摹皢误w數(shù)據(jù)"、“形態(tài)參數(shù)"、“整體分布"等參數(shù)進(jìn)行分析和計算,可以輕松獲得樣品的整體分布規(guī)律的曲線圖和顆粒形態(tài)描述等豐富數(shù)據(jù),是對各類顆粒樣品進(jìn)行觀測和分析的專業(yè)儀器設(shè)備。配套的專業(yè)顆粒分析軟件根據(jù)多年來用戶的使用意見進(jìn)行了更加人性化的升級和改進(jìn),由計算機(jī)自主分析出樣品各種等效粒徑、X、Y切線等“單體屬性"、以及包括長徑比、球型度在內(nèi)的“形態(tài)參數(shù)"。再通過進(jìn)一步計算得出此樣品的整體分布情況(包含整體分布曲線等豐富數(shù)據(jù)),軟件中還增加了多幅圖像拼接計算的模式,成倍增加了參與分析的顆粒數(shù)量,從而有效的保證了數(shù)據(jù)的代表性。最后可將樣品的數(shù)據(jù)以報告的形式輸出(包含有圖像范例、圖表、數(shù)據(jù)列表等),非常便于測試人員對測試結(jié)果進(jìn)行管理和匯報。

 

HAD-TT180 顯微顆粒圖像儀技術(shù)參數(shù)及詳細(xì)配置

技術(shù)參數(shù):

硬件參數(shù)

顯微系統(tǒng)

物鏡

4X、10X、40X、60X、100X(油)長距消色差(平場)物鏡組

目鏡

1X、10X、16X 大視野攝像目鏡

載物臺

手動三維機(jī)械式載物臺,尺寸:185mm×140mm,移動范圍:50mm×75mm,粗微同軸調(diào)焦,微動格值:2μm,帶鎖緊和限位裝置

光源

底部透射光源,6V 20W鹵素?zé)?亮度可調(diào)。可選頂部金相落射式光源(帶起偏振器)

總放大倍數(shù)

4倍——1600倍


輔助光源

鹵素光源

粒徑分析范圍

1μm~2000μm

攝像系統(tǒng)

最高分辨率

2048×1536

像素尺寸

3.2μm×3.2μm

成像元件

1/1.8英寸 progress scan CMOS 


產(chǎn)品優(yōu)勢

HAD-TT180顯微顆粒圖像儀作為專業(yè)的顆粒圖像分析儀器,是專為顆粒或顆粒相關(guān)行業(yè)設(shè)計開發(fā)的,它的突出優(yōu)勢主要體現(xiàn)在以下方面:

1. 本產(chǎn)品不但可對樣品的顆粒單體進(jìn)行科學(xué)描述,還可以將顆粒的分布情況使用數(shù)據(jù)、圖表等方式進(jìn)行直觀表現(xiàn)。能夠獨(dú)立或輔助激光粒度儀等設(shè)備更好的進(jìn)行顆粒測試工作。

2.數(shù)據(jù)直觀、易懂,分析結(jié)果一目了然:常見的顆粒測試儀器有激光粒度儀、沉降粒度儀等,但在進(jìn)行顆粒檢測的同時還可觀測樣品形貌的直觀性優(yōu)勢是其他所有顆粒測試設(shè)備所不具備的,這能夠使用戶更全面的了解顆粒的形貌、狀態(tài)、變化過程等信息。并且,對照直觀的樣品圖片,可以幫助用戶更好的理解報告中的數(shù)據(jù)含義。

3.應(yīng)用廣泛,性價比高:“HAD-TT180顯微顆粒圖像儀"既可以作為一種觀測儀器,替代傳統(tǒng)顯微鏡進(jìn)行各種樣品的觀測工作,又可以計算樣品的各項(xiàng)數(shù)據(jù),操作直觀簡便,應(yīng)用范圍十分廣泛。

 


說明:電子顯微鏡為選配,按客戶要求配置

 

 

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