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北京恒奧德儀器儀表有限公司
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當前位置:北京恒奧德儀器儀表有限公司>>無損檢測儀器>>測厚儀>> JHW2-TT220涂層測厚儀 測厚儀

涂層測厚儀 測厚儀

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號JHW2-TT220

品       牌恒奧德

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地北京市

更新時間:2024-04-11 14:48:57瀏覽次數(shù):1291次

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本儀器是種小型測量儀,它能快速、無損傷、地行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測量??蓮V泛用于制業(yè)、金屬業(yè)、化業(yè)、商檢等檢測域。由于該儀器體積小、測頭與儀器體化,別適用于程現(xiàn)場測量。 本儀器符合以下標準: GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦式覆層厚度測量儀 JJG 889─95 《磁阻法

涂層測厚儀 測厚儀  型號:JHW2-TT220

 

產(chǎn)品概述:

        本儀器是種小型測量儀,它能快速、無損傷、地行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測量。可廣泛用于制業(yè)、金屬業(yè)、化業(yè)、商檢等檢測域。由于該儀器體積小、測頭與儀器體化,別適用于程現(xiàn)場測量。 本儀器符合以下標準: GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦式覆層厚度測量儀 JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》

能點:

z 本儀器采用了磁性和渦兩種測厚方法,可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)
z 可行零點校準及二點校準,并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差行修正;
*有兩種測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE);
*有兩種作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
*有刪除能:對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)行刪除,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便行新的測量;
z  設(shè)有五個統(tǒng)計量:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測試次數(shù)(NO.)、標準偏差(S.DEV);
*有米、英制轉(zhuǎn)換能;
*有打印能,可打印測量值、統(tǒng)計值;
*有欠壓示能;
z操作過程有蜂鳴聲提示;
*有錯誤提示能;
*有自動關(guān)機能

參數(shù):

 

測頭類型

F

測量原理

磁感應(yīng)

測量范圍

0-1250um

低限分辨力

1µm(10um以下為0.1um)

探頭連接方式

體化

示值誤差

點校準(um)

±[3%H+1]

兩點校準(um)

±[(1~3)%H+1]

測量條件

zui小曲率半徑(mm)

凸 1.5 凹9

基體zui小面積的直徑(mm)

ф7

zui小臨界厚度(mm)

0.5

溫濕度

0~40℃
20%RH~90%RH

統(tǒng)計能

平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、
測試次數(shù)(NO.)、標準偏差(S.DEV)

作方式

直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)

測量方式

連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)

上下限設(shè)置

存儲能力

15 個測量值

打印/連接計算機

可選配打印機/不能連接電腦

關(guān)機方式

自動

電源

二節(jié)3.6V鎳鎘電池

外形尺寸

150×55.5×23mm

重量

150g

 

基本配置:主機z標準片套(50um 100um 200um 500um 1000um) z鐵基體 z充電器

可選附件:JHW2-TA230打印機

 

 

 

2.

產(chǎn)品名稱:*胺氮快速測定儀/*胺氮快速檢測儀
產(chǎn)品型號:HAD-110SK

 

*胺氮快速測定儀/*胺氮快速檢測儀 型號:HAD-110SK

應(yīng)用域

HAD-GDYQ-110SK*胺氮快速測定儀是種新的現(xiàn)場*胺氮定量測定儀器,廣泛應(yīng)用于各類火腿、臘肉等產(chǎn)品的現(xiàn)場測定。

儀器點:

* 可現(xiàn)場定量測定被測樣品中的*胺氮
* 化學試劑盒顯色,樣品和試劑用量少,可減少并防止二次污染
* 主機體積小,重量輕,操作簡單,攜帶方便

標:

* 測定下限:
2.0mg/100g
* 測定范圍:
0.0-20.0mg/100g
* 測量度:5%
儀器配置

* 主機1臺
* 樣品前處理器具1套
* 試劑套(50次)

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