*.該儀器參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的用于 測(cè)量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命;
*.測(cè)試單晶電阻率范圍: >0.3Ω.cm;
*.可測(cè)單晶少子壽命范圍: 1μS-10000μS;......
![]() |
參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間:2017-01-18 15:48:44瀏覽次數(shù):861
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
單晶少子壽命測(cè)試儀 LY.4-LT-3 特點(diǎn):
*.該儀器參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的用于 測(cè)量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命;
*.測(cè)試單晶電阻率范圍: >0.3Ω.cm;
*.可測(cè)單晶少子壽命范圍: 1μS-10000μS;
*.配備光源類型:紅外光源,波長(zhǎng):1.09μm;
余輝<1 μS;閃光頻率為:20-30次/秒;
*.前置放大器:放大倍數(shù)約25;
*.測(cè)量方式:采用對(duì)標(biāo)準(zhǔn)曲線讀數(shù)方式;