您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)! 登錄| 免費(fèi)注冊| 產(chǎn)品展廳| 收藏商鋪|
提供商
北京同德創(chuàng)業(yè)科技有限公司資料大小
43.7KB資料圖片
查看下載次數(shù)
47次資料類型
JPG 圖片瀏覽次數(shù)
303次
GB/T 4956-1985 磁性金屬基體上非磁性覆層厚度的測量(磁性方法)
兩種校準(zhǔn)方式:零點(diǎn)校準(zhǔn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)
當(dāng)測頭與覆層接觸時(shí),測頭與磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路,由于非磁性覆層的存在,使磁路磁阻發(fā)生變化,通過測量其變化量,可測得其覆層的厚度。
● 分辨率:0.1um/1um(100um以下為0.1um)
● 測量精度誤差:零點(diǎn)校準(zhǔn) ±(1.5+3%H);二點(diǎn)校準(zhǔn)±【(1%~3%H)】H+1.5
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗(yàn)證碼
以上信息由企業(yè)自行提供,信息內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé),化工儀器網(wǎng)對此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
溫馨提示:為規(guī)避購買風(fēng)險(xiǎn),建議您在購買產(chǎn)品前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。