單通道熱釋光劑量讀出器CTLD-250 型號(hào)：CTLD-250
主要功能及技術(shù)指標(biāo)
◇ 顯示：中文液晶屏
◇ 通訊：實(shí)時(shí)RS232通訊傳輸，傳輸速率：9.6Kbps
◇ 打?。壕哂袑?shí)時(shí)打印功能；
◇ 加熱參數(shù)設(shè)置：同時(shí)設(shè)置和儲(chǔ)存十組加熱參數(shù)；
◇ 劑量線性測(cè)量范圍:10-7 Gy～12Gy（LiF:Mg,Cu,P）
◇ 讀出器長(zhǎng)期穩(wěn)定性：0.3%。
◇ 測(cè)量系統(tǒng)穩(wěn)定性 ≤0.2%；
◇ 靈敏度重復(fù)性的變化系數(shù)：≤0.1%±0.05%/℃；
◇ 加熱溫度范圍：0～450℃
◇ 加熱溫度重復(fù)性：≤1%
◇ 加熱溫度偏差：≤±2℃
◇ 加熱時(shí)間重復(fù)性：≤0.1%
◇ 加熱速率：1～40 ℃·s-1
◇ 最大功耗：200W
◇ 重量：約30kg
單通道熱釋光劑量讀出器CTLD-250工作環(huán)境
◇ 儲(chǔ)存溫度： -10～50℃;
◇ 工作溫度： 0～40℃
◇ 相對(duì)濕度： ≤90%
◇ 電 源： 220V±10%, 50Hz
 | 產(chǎn)品名稱(chēng)：磁導(dǎo)率測(cè)量?jī)x 導(dǎo)磁率測(cè)試儀 產(chǎn)品型號(hào)：JDZ-2C |
產(chǎn)品應(yīng)用：
新款JDZ-2C磁導(dǎo)率測(cè)量?jī)x是一款采用磁通門(mén)原理測(cè)量弱磁測(cè)量的精密儀器，具有操作簡(jiǎn)便、工作穩(wěn)定、讀數(shù)可靠的多功能測(cè)量?jī)x器，是實(shí)驗(yàn)室、野外探測(cè)的測(cè)量?jī)x器；主要用于航天、航空、石化、電子、機(jī)械、鉆探、材料、鑄造等工業(yè)的的無(wú)損檢測(cè)、探測(cè)；適用于實(shí)驗(yàn)室、野外的的相對(duì)磁導(dǎo)率的測(cè)量和比較：
1.用于不銹鋼、錳鋼、有色金屬等無(wú)磁、抗磁、弱磁材料及焊接材料、填充、防護(hù)材料的磁導(dǎo)率無(wú)損檢測(cè)，如測(cè)量石油鉆鋌、連接器、零件、無(wú)磁干擾物等相對(duì)磁導(dǎo)率測(cè)量。
2.用于不同牌號(hào)無(wú)磁鋼的磁導(dǎo)率比較分類(lèi)、相同工件不同材料磁導(dǎo)率特征區(qū)分。
3.用于材料缺陷、應(yīng)力檢測(cè)，隨時(shí)掌握無(wú)磁鋼鑄件的鑄造產(chǎn)生的雜質(zhì)缺陷、熱處理、變形加工、機(jī)械加工后相對(duì)相對(duì)磁導(dǎo)率變化，及時(shí)更改加工工藝，防止產(chǎn)品相對(duì)磁導(dǎo)率超出要求范圍，造成產(chǎn)品報(bào)廢。
產(chǎn)品參數(shù)特點(diǎn)：
新款JDZ-2C磁導(dǎo)率測(cè)量?jī)x特點(diǎn)：
1.1測(cè)量項(xiàng)目：無(wú)磁抗磁材料的相對(duì)磁導(dǎo)率測(cè)量
1.2通訊接口：藍(lán)牙兼容
1.3防護(hù)等級(jí)：IP 60
1.4儀器尺寸：140 x 70 x 30 mm (長(zhǎng)×高×寬)
1.5顯示尺寸：128*64像素
1.6儀器重量：0.4kg
1.7充電電源：AC220V 50H，充電一次使用30小時(shí)以上
1.8功能：一鍵清零、一鍵校準(zhǔn)、標(biāo)樣校準(zhǔn)、儀器對(duì)比，用藍(lán)牙與電腦、手機(jī)連接，
可方便更改校準(zhǔn)參數(shù)、接收測(cè)量數(shù)據(jù)。
磁導(dǎo)率儀測(cè)量參數(shù)：：
2.1相對(duì)磁導(dǎo)率無(wú)損檢測(cè)范圍;1.0000到1.9999Ur
2.2有效分辨率為0.0001Ur
2.3測(cè)量誤差：±2.5%
2.4標(biāo)準(zhǔn)試塊：Ur~=1.2000、1.005、1.020、1.100（按要求配）
2.5檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：符合國(guó)家GB/T 35690-2017弱磁材料相對(duì)磁導(dǎo)率測(cè)量方法（相對(duì)磁導(dǎo)率Ur測(cè)量的探頭符合IEC 60404-15和 ASTM A342M標(biāo)準(zhǔn)）。
注：計(jì)算公式：Ur=B(Gs)/H(Oe)
（相對(duì)磁導(dǎo)率單位Ur。磁感應(yīng)強(qiáng)度B單位Gs，磁場(chǎng)強(qiáng)度H單位Oe）。（相對(duì)磁導(dǎo)率無(wú)單位，是用Ur表示）
在真空中，磁感應(yīng)強(qiáng)度B，磁場(chǎng)強(qiáng)度H，兩個(gè)數(shù)值是相等的（單位不相同），所以把這兩個(gè)比值作為相對(duì)磁導(dǎo)率，相對(duì)磁導(dǎo)率用Ur表示。
測(cè)量材料的相對(duì)磁導(dǎo)率時(shí)，被測(cè)材料的厚度應(yīng)大于8mm，有效面積不小于5㎝2；不能滿足厚度、有限面積時(shí)，相對(duì)磁導(dǎo)率測(cè)量數(shù)據(jù)測(cè)量值偏??；比較材料、工件的相對(duì)磁導(dǎo)率時(shí)（不能滿足上面1條時(shí)），配合標(biāo)樣校準(zhǔn)儀器，讀數(shù)作為當(dāng)前的相對(duì)磁導(dǎo)率。
操作說(shuō)明：
本機(jī)操作簡(jiǎn)單，只有3個(gè)按鍵，從左到右依次為“電源"、“校準(zhǔn)"、“清零/發(fā)送"。
3.1使用步驟：（1開(kāi)機(jī)2清零3檢查校準(zhǔn)4測(cè)量）
3.2儀器開(kāi)機(jī)：（按“電源"鍵啟動(dòng)，屏幕左上角顯示“測(cè)量"，右上角顯示“Ur"），
3.3儀器清零：測(cè)量前顯示不為零時(shí)，首先調(diào)整探頭上的旋流“調(diào)零"，偏差小時(shí)可按儀器上的“清零"
清零。
3.3儀器檢查校準(zhǔn)：按“校準(zhǔn)"鍵左上角的“測(cè)量"變?yōu)榉瓷?/span>對(duì)比"時(shí)，按“清零/發(fā)送"鍵檢查儀器準(zhǔn)確性，中間顯示大寫(xiě)“ON"時(shí)，數(shù)據(jù)欄顯示的“數(shù)字"與出廠時(shí)提供的“數(shù)據(jù)"一致時(shí)，可以不經(jīng)標(biāo)樣校準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)量，對(duì)比完測(cè)量前要關(guān)閉“ON"。
對(duì)比校準(zhǔn)（上述操作完成不需要標(biāo)樣校準(zhǔn)時(shí)校準(zhǔn)）：左上角的“測(cè)量"變?yōu)榉瓷?/span>對(duì)比"時(shí)，按“清零/發(fā)送"鍵，中間顯示大寫(xiě)“ON"時(shí)，再按“校準(zhǔn)"鍵左上角的“對(duì)比"變?yōu)榉瓷?/span>校準(zhǔn)"時(shí)，按“清零/發(fā)送"鍵一鍵校準(zhǔn)，此方法需用藍(lán)牙發(fā)送出廠對(duì)比值，發(fā)送格式位字符：F*****。
標(biāo)樣校準(zhǔn)（上述操作完成需要標(biāo)樣校準(zhǔn)時(shí)校準(zhǔn)）：把探頭垂直放在標(biāo)樣中間，顯示的與標(biāo)樣值不同時(shí)，按“校準(zhǔn)"鍵左上角的“測(cè)量"變?yōu)榉瓷?/span>校準(zhǔn)"時(shí)，按“清零/發(fā)送"鍵一鍵校準(zhǔn)，此方法需用藍(lán)牙發(fā)送標(biāo)樣值對(duì)比值，發(fā)送格式位字符：B*****。
3.4相對(duì)磁導(dǎo)率測(cè)量：把探頭輕移到所測(cè)工件的表面，移動(dòng)探頭或工件，讀取的最大值即為此工件的相對(duì)磁導(dǎo)率，當(dāng)探頭脫離工件后，按“清零/發(fā)送"鍵把此次測(cè)量的數(shù)據(jù)發(fā)送一次。
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