數字式四探針分析儀ST2253
概述
數字式四探針測試儀ST2253運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。
由主機、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等部分組成。
數字式四探針分析儀ST2253 主機主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成,USB通訊接口。儀器主機所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤和數碼開關輸入;具有零位、滿度自校功能;測試功能可自動/手動方式;儀器操作可由配套軟件在PC機上操作完成,也可脫PC機由四探針儀器面板上獨立操作完成。測試結果數據由主機數碼管直接顯示,也可連機由軟件界面同步顯示、分析、保存和打印!
根據不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜(ITO膜)或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配探頭,也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
測試臺選配:一般四探針法測試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選SZT-K型測試臺,也可選配SZT-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率,選配SZT-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。
詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的特點與選型參考》點擊進入
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點。
儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
三、基本技術參數
3.1 測量范圍
電 阻:1×10-4~2×105 Ω ,分辨率:1×10-5~1×102 Ω
電阻率:1×10-4~2×105 Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102 Ω-cm
方 阻:5×10-4~2×105 Ω/□,分辨率:5×10-5~1×102 Ω/□
3.2 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)
直 徑:SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15~130mm,手持方式不限
SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm,手持方式不限.
長(高)度:測試臺直接測試方式 H≤100mm, 手持方式不限.
測量方位: 軸向、徑向均可
3.3. 4-1/2 位數字電壓表:
(1)量程: 20.00mV~2000mV
(2)誤差:±0.1%讀數±2 字
3.4 數控恒流源
(1)量程:0.1μA,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100mA,1A
(2)誤差:±0.1%讀數±2 字
3.5 四探針探頭(選配其一或加配全部)
(1)碳化鎢探針:Φ0.5mm,直線探針間距1.0mm,探針壓力: 0~2kg 可調
(2)薄膜方阻探針:Φ0.7mm,直線或方形探針間距2.0mm,探針壓力: 0~0.6kg 可調
3.6. 電源
輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<20W
3.7.外形尺寸:
主 機 220mm(長)×245 mm(寬)×100mm(高)
凈 重:≤2.5kg
ZCQF氣水分離器是用于工業(yè)含液系統中將氣體和液體分離的設備,在現有氣液分離器設備中,主要采用重力式和循環(huán)式分離器,他們靠重力的不同將氣體和液體分離,由于現有技術只利用了介質的重力作用,因此其缺點是分離效率低,分離不*,設備體積和重量較大。新開發(fā)研制成功一種ZCQF氣水分離器,吸取了傳統氣液分離器的優(yōu)點,并將不足加以改進,從而達到高效率分離和*分離的目的。 ZCQF氣水分離器設計參數
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