高頻LCR數(shù)字電橋   型號：DL-TH2826A

性能特點(diǎn)
■ 國內(nèi)臺符合LXI標(biāo)準(zhǔn)的LCR表
■ 測試頻率20Hz～5MHz，10mHz步進(jìn)
■ 測試電平10mV～5V, 1mv步進(jìn)
■ 基本準(zhǔn)確度0.1%
■ 達(dá)200次/s的測量速度
■ 320×240點(diǎn)陣大型圖形LCD顯示
■ 五位讀數(shù)分辨率
■ 可測量22種阻抗參數(shù)組合
■ 四種信號源輸出阻抗
■ 10點(diǎn)列表掃描測試功能
■ 內(nèi)部自帶直流偏置源
■ 外置偏流源至40A（配置兩臺TH1776）（選件）
■ 電壓或電流的自動電平調(diào)整（ALC）功能
■ V、I測試信號電平監(jiān)視功能
■ 圖形掃描分析功能
■ 20組內(nèi)部儀器設(shè)定可供儲存/讀取
■ 內(nèi)建比較器,10檔分選及計(jì)數(shù)功能
■ 多種通訊接口方便用戶聯(lián)機(jī)使用
■ 2m/4m測試電纜擴(kuò)展（選件）
■ 中英文可選操作界面
高頻LCR數(shù)字電橋 簡要介紹
■TH2826系列元件測試儀是國內(nèi)臺符合LXI標(biāo)準(zhǔn)的新
一代阻抗測試儀器，其0.1%的基本精度、20Hz～5MHz
的頻率范圍可以滿足元件與材料大部分低壓參數(shù)的測量
要求，可廣泛應(yīng)用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷
電容器、液晶顯示器、變?nèi)荻?、變壓器等進(jìn)行諸多電
氣性能的分析及低ESR電容器和高Q電感器的測量。
■TH2826系列產(chǎn)品高速的測試速度使其特別適用于
自動生產(chǎn)線的點(diǎn)檢機(jī)，壓電器件的頻率響應(yīng)曲線分析等
等。其多種輸出阻抗模式可以適應(yīng)各個(gè)電感變壓器廠家
的不同標(biāo)準(zhǔn)需求。
■TH2826系列產(chǎn)品以其的性能可以實(shí)現(xiàn)商業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和軍
用標(biāo)準(zhǔn)如IEC和MIL標(biāo)準(zhǔn)的各種測試。
 廣泛的測量對象
無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、
芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析。
半導(dǎo)體元件：變?nèi)荻艿腃-VDC特性；晶體管或集成電路
的寄生參數(shù)分析
其它元件：印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻
抗評估
介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估
磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗
角評估
半導(dǎo)體材料：半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性
液晶材料：液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性
TH2826/TH2826A
技術(shù)參數(shù)
測試參數(shù)C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
測試頻率
TH2826 20 Hz～5MHz,10mH步進(jìn)
TH2826A 20 Hz～2MHz,10mH步進(jìn)
測試信號電
平
f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）
f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV）
輸出阻抗10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本準(zhǔn)確度0.1%
顯示范圍
L 0.0001 uH ～ 9.9999kH
C 0.0001 pF ～ 9.9999F
R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ
Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S
D 0.0001 ～ 9.9999
Q 0.0001 ～ 99999
θ -179.99°～ 179.99°
測量速度快速: 200次/s（f﹥30KHz）,100次/s（f﹥1KHz）
中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
校準(zhǔn)功能開路 / 短路點(diǎn)頻、全頻清零，負(fù)載校準(zhǔn)
等效方式串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式
量程方式自動, 保持
顯示方式直讀, Δ, Δ%
觸發(fā)方式內(nèi)部, 手動, 外部, 總線
內(nèi)部直流偏
置源
電壓模式
-5V ～ +5V,
±（10%+10mV）, 1mV步進(jìn)
電流模式（內(nèi)
阻為50Ω）
-100mA ～ +100mA,
±（10%+0.2mA）,20uA步進(jìn)
比較器功能10檔分選及計(jì)數(shù)功能
顯示器320×240點(diǎn)陣圖形LCD顯示
存儲器可保存20組儀器設(shè)定值
接口
USBDEVICE（ USBTMC and USBCDC support）
USBHOST（FAT16 and FAT32 support）
LAN（LXI class C support）
RS232C
HANDLER
GPIB（選件）

產(chǎn)品名稱： SDI儀 污染指數(shù)檢測儀 SDI污染指數(shù)測定儀  產(chǎn)品型號：SDI 鋁合金過濾器

 SDI儀 污染指數(shù)檢測儀 SDI污染指數(shù)測定儀 型號： SDI 鋁合金過濾器

SDI測試儀使用說明書 
一、產(chǎn)品說明：  
污染指數(shù)測試儀(SDI儀)； 
測試范圍：0-6.7SDI單位； 
堵塞因子范圍：1-100%； 
進(jìn)水接口：1/2英寸外絲快速接頭； 
進(jìn)水壓力：65-100 psi (4.5-6.9 bar)。 
    本產(chǎn)品主要用于反滲透系統(tǒng)中SDI（污染指數(shù)）值的測定，嚴(yán)格按照美國ATME標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)。用來測試水（液體）在一定壓力下，通過濾膜，過濾流量衰減情況來計(jì)算SDI值。 
    產(chǎn)品備件齊全，供應(yīng)及時(shí)。服務(wù)周全到位，產(chǎn)品技術(shù)支持由美國及中國的專家提供。該儀器的計(jì)量測試數(shù)據(jù)精確，驗(yàn)證重復(fù)率高。 
二、SDI（污染指數(shù)）值檢測及計(jì)算方法:  
    1、將SDI測試儀安裝在RO系統(tǒng)的測試位置上。如果測試點(diǎn)在預(yù)處理系統(tǒng)后，那么當(dāng)測試SDI值時(shí)，RO系統(tǒng)應(yīng)該正常運(yùn)行，否則Z后的測試結(jié)果就會無效。  
    2、開始時(shí)，SDI測試儀內(nèi)不能放0.45μm微孔過濾膜。  
    3、測試儀連接完成后，打開測試儀上的閥門，讓被測水直接流過測試儀幾鐘。       
    4、關(guān)上閥門，用鑷子放一張Ф47mm，精度0.45μm的微孔過濾膜（亮的一邊朝上）在測試儀的膜盒支撐板上并輕輕地壓緊“0”型圈及膜盒上蓋，擰上螺絲，但不要太緊。  
    5、將閥門打開一部分，當(dāng)水流過測試儀時(shí)，慢慢旋松一個(gè)或兩個(gè)螺絲，讓水漫出測試儀，以逐出測試儀內(nèi)的空氣。  
    6、確定測試儀內(nèi)已經(jīng)沒有空氣了，輕輕旋緊螺絲。*打開閥門，將減壓閥壓力調(diào)節(jié)到0.21MPa?。?07KPa），保持住該壓力，關(guān)上閥門。整個(gè)測試期間，壓力必須保持不變。  
    7、用合適的容器收集水樣本。只要保證每次用同樣的容量測試，容量的大小并不重要。容量可在100到500毫升之間。不同的容器都可用：例如量筒、大口杯等，一般考慮收集500毫升水樣。  
    8、*打開閥門，用秒表測量收集500毫升水樣所需要的時(shí)間，并記錄為T（1）＝__秒。收集完后，仍繼續(xù)保持閥門打開，讓水繼續(xù)流出。  
    9、過5分鐘后再用秒表測量收集另一個(gè)500毫升水樣所需要的時(shí)間并記錄為T（5）＝__秒，過10及15分鐘后各做一遍同樣的測試并分別記錄為T（10）和T（15）。檢測結(jié)束后，SDI值就能被計(jì)算出來。有些水樣數(shù)據(jù)采樣可能要求延續(xù)到T（20），T（30）甚至T（60），當(dāng)然這種水樣是少數(shù)的。  
    10、測定水溫。在整個(gè)測試期間，水溫必須保持*。  
    11、SDI值由下列公式計(jì)算得出： SDI＝100P30／Tt＝100（1—T1／T2）／Tt  
P30——在207kpa進(jìn)水壓力下的堵塞指數(shù)，即（1—T1／T2） 
Tt總測試時(shí)間（分）通常為T15，此時(shí)P30＜75％，不然測試T10或T5，使此時(shí)的P30＜75％ 
T1——初始時(shí)收集500ml水樣所需的時(shí)間（秒） 
T2——經(jīng)T1（通常為T15，即15分鐘）后收集500ml水樣所需的時(shí)間（秒）。