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方塊電阻測(cè)試儀/方阻檢測(cè)儀/方塊電阻測(cè)試儀/便攜式方塊電阻檢測(cè)儀 型號(hào):TD-XX-2
TD-XX-2型方塊電阻測(cè)試儀,是TD-XX型系列四探針?lè)綁K電阻 測(cè)試儀中的新一代產(chǎn)品, 是一種依照類似的標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó) A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì),專門測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新 型儀器。
可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧 化膜)……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
技術(shù)特點(diǎn):
* 測(cè)量范圍:基本量程:方塊電阻 1.00—199.99(Ω/□); 擴(kuò)展量程:方塊電阻 10.0—1999.9(Ω/□);
* 以大屏幕LCD顯示讀數(shù),直觀清晰。
* 采用單個(gè)干電池供電,帶電池欠壓指示;
* 體積≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;
* 帶探頭與被測(cè)物質(zhì)接觸良好指示(LED);
* 單電源開關(guān),推拉式探頭-主機(jī)接插件,操作其簡(jiǎn)便。
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