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     德國E+H恩德斯豪斯物位計(jì)通常用于液體和顆粒狀固體等物位的監(jiān)控

物位測量通常指對(duì)工業(yè)生產(chǎn)過程中封閉式或敞開容器中物料（固體或液位）的高度進(jìn)行檢測，如果是對(duì)物料高度進(jìn)行連續(xù)的檢測，稱為連續(xù)測量。如果只對(duì)物料高度是否到達(dá)某一位置進(jìn)行檢測稱為限位測量。完成這種測量任務(wù)的儀表叫做E+H物位計(jì)。

靜壓型E+H物位計(jì)：用于槽罐或容器內(nèi)的物位測量，可直接安裝或通過遠(yuǎn)傳密封組件安裝。

超聲波E+H物位計(jì)：用于液體和顆粒狀固體等物位的監(jiān)控。

雷達(dá)E+H物位計(jì)：波束角小（最小5度）,能量集中，具有更強(qiáng)抗干擾能力，大大提高了測量精度和可靠性，固體粉塵和液體都可以監(jiān)測。

電容式E+H物位計(jì)：高溫、高壓條件下的物位測量。防塵、防掛料、防蒸汽、防冷凝。

E+H物位計(jì)是一種新型的電容式連續(xù)測量物位儀表，由于采用射頻技術(shù)和微機(jī)技術(shù)解決了傳統(tǒng)電容式E+H物位計(jì)溫漂大、標(biāo)定難、怕粘附的難題。

可廣泛應(yīng)用于各行業(yè)中液體及固體料倉物位的連續(xù)測量。

特別是高溫、強(qiáng)腐蝕、強(qiáng)粘附、粉塵大的環(huán)境下進(jìn)行測量，選擇該E+H物位計(jì)是的。

電容式E+H物位計(jì)

高溫、高壓條件下的物位測量。防塵、防掛料、防蒸汽、防冷凝。

物位開關(guān)

用于檢測顆粒狀固體、漿料和界面的預(yù)定液位。超聲方法或高靈敏度電容式測量。

微波E+H物位計(jì)使用的微波頻率有三個(gè)頻段：C波段(5.8～6.3GHz)、X波段(9～10.5GHz)、K波段(24～26GHz)。制造商根據(jù)自己的技術(shù)及國家批準(zhǔn)的頻率來設(shè)計(jì)產(chǎn)品。

物位測量中的微波一般是定向發(fā)射的，通常用波束角來定量表示微波發(fā)射和接收的方向性。波束角和天線類型有關(guān)，也和使用的微波頻率(波長)有關(guān)。

對(duì)于常用的圓錐形喇叭天線來說，微波的頻率越高，波束的聚焦性能越好，即波束角小，在實(shí)際使用中這是十分重要的，低頻微波E+H物位計(jì)有較寬的波束，如果安裝不得當(dāng)，將會(huì)收到內(nèi)部結(jié)構(gòu)產(chǎn)生的較多的虛假回波，例如：采用4"喇叭天線的26GHz雷達(dá)的典型波束角為8°，而5.8GHz 的典型波束角為17°。并且，微波的頻率越高，其喇叭尺寸也可以做的越小，更易于開孔安裝。還沒有頻率高于K波段(24—26GHz)的微波(雷達(dá))E+H物位計(jì)。

而X波段雷達(dá)由于沒有明顯的應(yīng)用特點(diǎn)，而在各大物位廠商的雷大物位技術(shù)發(fā)展中趨于被淘汰?，F(xiàn)今物位測量領(lǐng)域困擾用戶的是一些大型固體料倉的物位測量，特別是用于50/100米以內(nèi)的充滿粉塵和擾動(dòng)的加料狀態(tài)下的料倉。相關(guān)技術(shù)的儀表例如電容或?qū)Рɡ走_(dá)TDR在放料時(shí)物位下降時(shí)會(huì)受到很強(qiáng)的張力負(fù)載，可能會(huì)損壞儀表或把倉頂拉塌掉。重錘經(jīng)常有埋錘的問題，需要經(jīng)常維修，大多數(shù)其他機(jī)械式儀表也是這樣。而高粉塵工況又可能會(huì)超出非接觸式超聲波物位測量系統(tǒng)的能力。 高頻的調(diào)頻雷達(dá)技術(shù)尤其適合這種大型固體料倉的物位測量!

現(xiàn)今的高頻雷達(dá)一般為工作在K波段(24～26GHz)的雷達(dá)E+H物位計(jì)，雷達(dá)的工作頻率越高其電磁波波長越短，越容易在傾斜的固體表面有更好的反射，并具有較窄的波束寬度，可有效避開障礙物，高的頻率還可使雷達(dá)使用更小的天線。而FMCW調(diào)頻連續(xù)波微波E+H物位計(jì)發(fā)射和接受信號(hào)是同時(shí)的，相同時(shí)間內(nèi)發(fā)射的微波信號(hào)更多，固體測量中可減少高粉塵固體料倉測量中的失波現(xiàn)象。因此固體測量中高頻的調(diào)頻雷達(dá)能提供準(zhǔn)確、可靠的測量，并在例如化工行業(yè)中的PP粉末、PE粉末等介質(zhì)中也有良好應(yīng)用。但由于技術(shù)限制，現(xiàn)今還沒有工作在K波段以上的高頻雷達(dá)E+H物位計(jì)。

也有使用5.8GHz ~ 10GHz的低頻雷達(dá)測量固體，但由于其較低的頻率、較長的波長其發(fā)射波不容易被漫反射，在高粉塵工況下會(huì)導(dǎo)致很多的二次或多次回波，干擾和噪聲很大，因此固體粉料測量中逐漸被淘汰。

3D物位掃描儀、電容式E+H物位計(jì)、射頻式E+H物位計(jì)（電容原理）、靜壓式E+H物位計(jì)（嚴(yán)格來講不算物位儀表）、浮子式E+H物位計(jì)、超聲波E+H物位計(jì)、磁至伸縮式液位計(jì)、雷達(dá)（微波）E+H物位計(jì)，射頻導(dǎo)納E+H物位計(jì)

3D物位掃描儀

介可視3D物位掃描儀是采用三個(gè)天線陣列傳輸?shù)皖l脈沖，并接收從筒倉或儲(chǔ)存容器內(nèi)物料返回的脈沖波。J可視物位監(jiān)測儀使用這三個(gè)天線不僅測量每個(gè)方波的時(shí)間差/距離，而且還測量回波的方向。介可視3維超聲波E+H物位計(jì)數(shù)字信號(hào)處理器采樣、分析接收到的回波信號(hào)，為儲(chǔ)存物的料位和體積提供非常精確的測量，并可在遠(yuǎn)程計(jì)算機(jī)屏幕上顯示容器內(nèi)物料真實(shí)分布的三維圖像。的粉塵穿透技術(shù)使得過程測量和庫存控制達(dá)到了的精度。概述tokidapm料位計(jì)是一種能夠?qū)ι⒀b固體和粉體提供有效、精確測量的設(shè)備，不論物料的類型或產(chǎn)品特征，儲(chǔ)存筒倉或容器的類型和尺寸，以及苛刻的儲(chǔ)存環(huán)境，都能實(shí)施有效測量。

雷達(dá)E+H物位計(jì)

雷達(dá)E+H物位計(jì)采用微波脈沖的測量方法，并可在工業(yè)頻率波段范圍內(nèi)正常，波束能量低，可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內(nèi)，對(duì)液體、漿料及顆粒料的物位進(jìn)行非接觸式連續(xù)測量。適用于粉塵、溫度、壓力變化大，有惰性氣體及蒸汽存在的場合。對(duì)人體及環(huán)境均無傷害，讓顧客買智能雷達(dá)E+H物位計(jì)買的放心，買的值得。雷達(dá)E+H物位計(jì)還具有不受介質(zhì)比重的影響，不受介電常數(shù)變化的影響，不需要現(xiàn)場校調(diào)等優(yōu)點(diǎn)，不論是對(duì)工業(yè)需要，還是對(duì)顧客經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的考慮，都是不錯(cuò)的選擇。

阻旋E+H物位計(jì)

阻旋E+H物位計(jì)具有耐高溫，測量結(jié)果準(zhǔn)確，抗干擾強(qiáng)等特點(diǎn)，他還具有防抖性能，防塵密封性能和較高的性價(jià)比。因此，對(duì)于完成一些高溫作業(yè)，高溫阻旋E+H物位計(jì)成了當(dāng)之無愧的選擇。

射頻導(dǎo)納E+H物位計(jì)

射頻導(dǎo)納E+H物位計(jì)通用性強(qiáng),可抗粘附,探頭可拆,耐高低溫,并且具有智能診斷等，因此射頻導(dǎo)納E+H物位計(jì)可應(yīng)用于各種導(dǎo)電和非導(dǎo)電介質(zhì)的測量。并且它的控制器與探頭之間沒有電纜連接，探頭可拆，隨時(shí)可以將控制器拆除更換維修，不影響進(jìn)出物料。

音叉E+H物位計(jì)

音叉E+H物位計(jì)不受泡沫、渦流、氣體的影響，適用于各種料倉固體物料料位以及各種容器內(nèi)液位的定點(diǎn)報(bào)警或控制，而且多種型號(hào)可以適合不同場合的應(yīng)用。音叉E+H物位計(jì)的工作原理是通過安裝在音叉基座上的一對(duì)壓電晶體使音叉在一定共振頻率下振動(dòng)。當(dāng)音叉與被測介質(zhì)相接觸時(shí)，音叉的頻率和振幅將改變，這些變化由智能電路來進(jìn)行檢測，處理并將之轉(zhuǎn)換為一個(gè)開關(guān)信號(hào)。所以，音叉E+H物位計(jì)不僅適用于固體物料，也適用于液體介質(zhì)的測量。

超聲波E+H物位計(jì)

超聲波E+H物位計(jì)又分為很多型號(hào)，比如防腐超聲波E+H物位計(jì)，固體式超聲波料位計(jì)，固一體式超聲波料位計(jì)等。它們具有高精度，高穩(wěn)定性能，較強(qiáng)抗干擾能力，發(fā)射角小，發(fā)射頻率高，防過壓防雷擊等功能。可與進(jìn)口超聲波E+H物位計(jì)（超聲波液位計(jì)）相媲美。

26G雷達(dá)E+H物位計(jì)

傳感器是26G高頻雷達(dá)式物位測量儀表，測量最大距離可達(dá)70米。天線被進(jìn)一步優(yōu)化處理，新型的快速的微處理器可以進(jìn)行更高速率的信號(hào)分析處理，使得儀表可以用于：反應(yīng)釜或固體料倉非常復(fù)雜的測量條件。