CCIT真空衰減法密封檢漏儀

CCIT，英文全稱為Container Closure Integrity Test，又稱容器密封性，顧名思義就是檢查容器（內(nèi)包材）的密封性（完整性，泄漏情況）。

容器密封性測(cè)試方法

容器密封性測(cè)試分為物理的（Physical CCIT）和微生物測(cè)試（Microbial CCIT）。測(cè)試方法包括常見(jiàn)的亞甲基藍(lán)染色，色水法，真空衰減，激光，微生物侵入法等等。方法選擇時(shí)，需考慮各種因素，如包裝本身、包裝內(nèi)容物、密封組件的匹配、方法本身的特點(diǎn)、檢出限等。

濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器研發(fā)生產(chǎn)的CCIT密封性測(cè)試儀LEAK-S采用真空衰減法原理，基于雙傳感技術(shù)，采用非破壞性檢測(cè)方法對(duì)成品包裝進(jìn)行泄漏檢測(cè)，測(cè)試后樣品無(wú)損傷不影響正常使用，測(cè)試成本低，產(chǎn)品包裝完成完整性試驗(yàn)之后仍然可以正常使用，滿足ASTM F2338《使用真空衰變法無(wú)損檢驗(yàn)包裝緊密性的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》、USP 1207等。

測(cè)試原理

將CCIT密封性測(cè)試儀主機(jī)連接到一個(gè)特別設(shè)計(jì)用來(lái)容納需要被測(cè)物的測(cè)試腔內(nèi)。儀器對(duì)測(cè)試腔進(jìn)行抽真空，包裝物內(nèi)外形成壓力差，在壓力的作用下包裝物內(nèi)氣體通過(guò)漏孔擴(kuò)散至測(cè)試腔內(nèi)，雙傳感器技術(shù)檢測(cè)時(shí)間和壓力的變化關(guān)系，與標(biāo)準(zhǔn)值（建立的數(shù)學(xué)模型）進(jìn)行比較，從而判斷試樣是否泄漏。

技術(shù)參數(shù)

真空度：0--100kPa

檢測(cè)孔徑精度：＜5μm

設(shè)備操作：自帶HMI

內(nèi)部壓力：常壓

測(cè)試系統(tǒng)：真空傳感器技術(shù)

真空來(lái)源：外接真空泵

測(cè)試腔：根據(jù)樣品定做

檢測(cè)原理：真空衰減法/無(wú)損檢測(cè)

主機(jī)尺寸：500mmX360mmX320mm（長(zhǎng)寬高）

重    量：18Kg

環(huán)境溫度：20℃-30℃

相對(duì)濕度：≤80%,無(wú)凝露

工作電源：220V

技術(shù)特征

1、CCIT密封性測(cè)試儀針對(duì)不同檢測(cè)樣品可選配對(duì)應(yīng)的測(cè)試腔，用戶可輕松更換，在滿足更多種類樣品的情況下，盡量減少用戶費(fèi)用開支，使儀器具備要有較好的檢測(cè)適應(yīng)性；

2、適用于檢測(cè)微小漏孔，也可以鑒別大漏孔樣品，并給出合格與不合格的判斷；

3、采用非破壞性檢測(cè)方法對(duì)成品包裝進(jìn)行泄漏檢測(cè)，測(cè)試后樣品無(wú)損傷不影響正常使用，測(cè)試成本低；

4、測(cè)試結(jié)果非主觀性判斷，無(wú)需人工參與，保證數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性與客觀性；

5、儀器配備R232串口，支持?jǐn)?shù)據(jù)局域網(wǎng)傳輸，并具備ISP在線升級(jí)功能，滿足客戶個(gè)性化要求。

CCIT真空衰減法密封檢漏儀