Thick 800 X熒光光譜儀主要針對大件部件的鍍層厚度和含量的無損、快速測定，它不同于EDX600B的下照式和封閉樣品腔的設(shè)計，而是采用上照式，能量色散X熒光光譜儀通過三維的移動和激光定位，實現(xiàn)對尺寸范圍較大部件進行鍍層厚度和含量的點測量.應用領(lǐng)域：黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測；金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行、首飾銷售和檢測機構(gòu)；電鍍行業(yè)。

技術(shù)指標：
1、元素分析范圍：從K到U
2、一次性可同時分析多層鍍層
3、分析厚度檢測出限zui高達0.01um
4、同時可分析多達5層以上鍍層
5、相互獨立的基體效應校正模型，厚度分析方法
6、多次測量重復性zui高可達0.01um
7、長期工作穩(wěn)定性小于0.1um（5um左右單鍍層樣品）
8、溫度適應范圍：15℃~30℃
9、輸出電壓220±5V/50HZ（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）

能量色散X熒光光譜儀配置：
1、開放式樣品腔
2、二維移動樣品平臺
3、探測器和X光管上下移動可實現(xiàn)三維移動
4、雙激光定位裝置
5、準直器自動切換裝置
6、玻璃屏蔽罩
7、正比計數(shù)盒探測器
8、信號檢測電子電路
9、高低壓電源
10、X光管
11、計算機及噴墨打印機
12、樣品腔尺寸：517mm×352mm×150mm
13、外型尺寸：648mm×490mm×544mm