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測厚儀應(yīng)用:薄膜測厚儀:用于測定薄膜、薄片等材料的厚度,測量范圍寬、測量精度高,具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。涂層測厚儀:用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。
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相關(guān)設(shè)備數(shù)顯磁性測厚儀
測厚儀應(yīng)用:
◆薄膜測厚儀:用于測定薄膜、薄片等材料的厚度,測量范圍寬、測量精度高,具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。
◆涂層測厚儀:用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。
◆超聲波測厚儀:超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測量的,當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時(shí),脈沖被反射回探頭,通過準(zhǔn)確測量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。
◆激光測厚儀是利用激光的反射原理,根據(jù)光切法測量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測量儀器。它可直接輸出數(shù)字信號(hào)與工業(yè)計(jì)算機(jī)相連接,并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。
◆X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量儀器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心,采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng),達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè):有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工.
紙張測厚儀:適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。
用途:
該測厚儀測定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度的測定。
參數(shù):
◆測量范圍: O-200μm。
◆執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn): GB/T1764-89 、GB/T13452.2-92 、ISO2808-74。
◆測量精度:±( 0.7μm 3%H )*H為標(biāo)準(zhǔn)厚度。
測厚儀原理分類:
測厚儀按照測量的方式不同,可大致分為:
1、接觸式測厚儀
接觸面積大小劃分:
◆點(diǎn)接觸式測厚儀
◆面接觸時(shí)測厚儀
2、非接觸式測厚儀
非接觸式測厚儀根據(jù)其測試原理不同,又可分為以下幾種:
◆激光測厚儀
◆超聲波測厚儀
◆涂層測厚儀
◆X射線測厚儀
◆白光干涉測厚儀
◆電解式測厚儀