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主營(yíng)產(chǎn)品： 粗糙度輪廓儀,圓柱度測(cè)量?jī)x,CORNING平面度測(cè)量?jī)x,ROMER關(guān)節(jié)臂三坐標(biāo),軼諾INNOVATEST布洛維氏硬度計(jì)

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Renishaw TP200英國(guó)雷尼紹觸發(fā)式三坐標(biāo)測(cè)頭系統(tǒng)
英國(guó)雷尼紹觸發(fā)式三坐標(biāo)測(cè)頭系統(tǒng)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào) Renishaw TP200
  • 品牌 RENISHAW/英國(guó)雷尼紹
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 所在地 上海市

更新時(shí)間：2017-12-22 00:55:49瀏覽次數(shù)：1418

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【簡(jiǎn)單介紹】
具有模塊交換功能的超小型應(yīng)變片式測(cè)頭。

英國(guó)雷尼紹Renishaw TP200觸發(fā)式三坐標(biāo)測(cè)頭系統(tǒng)

 

TP200觸發(fā)式三坐標(biāo)測(cè)頭系統(tǒng)組件包括：

•    TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）
•    TP200測(cè)針模塊 — 選擇固定超程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）
•    PI 200測(cè)頭接口
•    SCR200測(cè)針交換架
還有一種EO模塊（長(zhǎng)超程），超程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。

 

TP200三坐標(biāo)測(cè)頭系統(tǒng)特性與優(yōu)點(diǎn)

•    應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量
•    零復(fù)位誤差
•    無各向同性影響
•    六向測(cè)量能力
•    測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100 mm（GF測(cè)針）
•    快速測(cè)頭模塊交換，無需重新標(biāo)定測(cè)尖
•    壽命 >1 000萬次觸發(fā)

Renishaw三坐標(biāo)觸發(fā)式測(cè)頭TP200

 

TP200 / TP200B測(cè)頭本體

TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。
傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。
TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動(dòng)公差。這有助于克服因坐標(biāo)測(cè)量機(jī)傳導(dǎo)振動(dòng)或在移動(dòng)速度很高的情況下使用長(zhǎng)測(cè)針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問題。
請(qǐng)注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測(cè)針。

TP200 / TP200B測(cè)頭本體

Renishaw TP200三坐標(biāo)測(cè)頭技術(shù)規(guī)格:

 

摘要

TP200

TP200B

主要應(yīng)用需要高精度的數(shù)控坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。與TP200一樣，但當(dāng)出現(xiàn)誤觸發(fā)事件時(shí)。
傳感器方向六軸：±X、±Y、±Z六軸：±X、±Y、±Z
單向重復(fù)性 (2s µm)觸發(fā)水平1：0.40 µm觸發(fā)水平1：0.40 µm
 觸發(fā)水平2：0.50 µm觸發(fā)水平2：0.50 µm
XY（2D）輪廓形式測(cè)量偏差觸發(fā)水平1：±0.80 µm觸發(fā)水平1：±1 µm
 觸發(fā)水平2：±0.90 µm觸發(fā)水平2：±1.2 µm
XYZ (3D) 輪廓測(cè)量偏差觸發(fā)水平1：±1 µm觸發(fā)水平1：±2.50 µm
 觸發(fā)水平2：±1.40 µm觸發(fā)水平2：±4 µm
測(cè)針交換的重復(fù)性SCR200：±0.50 µm（zui大）SCR200：±0.50 µm（zui大）
 手動(dòng)：±1 µm（zui大）手動(dòng)：±1 µm（zui大）
測(cè)力（測(cè)尖）XY平面（所有模塊）：0.02 NXY平面（所有模塊）：0.02 N
 Z軸（所有模塊）：0.07 NZ軸（所有模塊）：0.07 N
超程測(cè)力（位移為0.50 mm時(shí)）XY平面（SF/EO模塊）：0.2 N至0.4 NXY平面（SF/EO模塊）：0.2 N至0.4 N
 XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 NXY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N
 Z軸（SF/EO模塊）：4.90 NZ軸（SF/EO模塊）：4.90 N
 Z軸（LF模塊）：1.60 NZ軸（LF模塊）：1.60 N
重量（測(cè)頭傳感器和模塊）22 g22 g
zui長(zhǎng)加長(zhǎng)桿（如配在PH10系列測(cè)座上）300 mm300 mm
推薦的zui大測(cè)針長(zhǎng)度（M2測(cè)針系列）SF/EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GFSF/EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF
 LF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GFLF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF
安裝方式M8螺紋M8螺紋
適合的接口PI200、UCCPI200、UCC
測(cè)針模塊交換架自動(dòng)：SCR200自動(dòng)：SCR200
 手動(dòng)：MSR1手動(dòng)：MSR1
測(cè)針系列M2M2

 

TP200測(cè)針模塊：

測(cè)針模塊通過高重復(fù)性機(jī)械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測(cè)頭本體上，具有快速測(cè)針交換功能和測(cè)頭超程保護(hù)功能。
有三種測(cè)針模塊可供選擇，具有兩種不同的超程測(cè)力。

 

模塊SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）LF（低測(cè)力）EO（長(zhǎng)超程）
應(yīng)用一般使用。小直徑測(cè)球或必須使用zui小測(cè)力的場(chǎng)合。額外超程使坐標(biāo)測(cè)量機(jī)在較高的碰觸速度下安全停止并回退。
備注 測(cè)針zui長(zhǎng)可達(dá)100 mm，測(cè)球直徑 > 1 mm。測(cè)球直徑小于1 mm。與SF的超程測(cè)力相同。
測(cè)頭Z軸的額外超程為8 mm。

 

雷尼紹SCR200測(cè)頭交換架：

SCR200可對(duì)zui多六個(gè)TP200測(cè)針模塊進(jìn)行自動(dòng)高速交換。SCR200由獨(dú)立的測(cè)頭接口 — PI200供電，并可確保安全的測(cè)針交換。SCR200套件可包含低測(cè)力和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力組件，每一種套件都包含一個(gè)SCR200加上三個(gè)測(cè)力相同的測(cè)針模塊。

SCR200交換架規(guī)格：

高度：190mm；

寬度：245mm。

SCR200可對(duì)zui多六個(gè)TP200測(cè)針模塊進(jìn)行自動(dòng)高速交換。

 測(cè)針模塊交換：

TP20和TP200測(cè)頭具有測(cè)針模塊交換功能，生產(chǎn)效率更高，并且總能選擇應(yīng)用的測(cè)量系統(tǒng)。

  • 減少循環(huán)時(shí)間 — 模塊交換時(shí)間約為6秒，相比之下手工交換需要1分鐘（還有重新標(biāo)定時(shí)間）。
  • XY平面碰撞保護(hù)裝置 — 測(cè)針模塊在發(fā)生碰撞時(shí)會(huì)分離。
  • 模塊可以安全地存放在交換架上。
TP20和TP200測(cè)頭具有測(cè)針模塊交換功能，生產(chǎn)效率更高


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