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光電關(guān)聯(lián)顯微技術(shù)（Correlative Light and Electron Microscopy; CLEM）是一種結(jié)合熒光顯微鏡成像與電子顯微鏡成像相關(guān)的分析方法。通過使用光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡觀察同一樹脂包埋超薄切片，可分析細(xì)胞內(nèi)的細(xì)胞器、分子的定位和形態(tài)。該方法可確保高相關(guān)性（除電子束和熒光波長不同導(dǎo)致的差異外），還可提高熒光信號的 Z 軸分辨率。

在傳統(tǒng)的CLEM法中，由于熒光淬滅的原因，難以對同一切片進(jìn)行光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡觀察。

本次研討會將介紹一種創(chuàng)新技術(shù)——In-resin CLEM。在該技術(shù)的支持下，可同時使用熒光顯微鏡和電子顯微鏡對同一切片進(jìn)行觀察。除了介紹In-resin CLEM的原理和應(yīng)用之外，還將介紹In-resin CLEM的最新應(yīng)用，如使用抗體的Immuno-in-resin CLEM。

免費報名鏈接：v2.nex-pro.com/campaign/60340/apply

◆會議概要

主題：In-resin CLEM的研究進(jìn)展：從培養(yǎng)細(xì)胞到中樞神經(jīng)組織中的神經(jīng)膠質(zhì)細(xì)胞

日期：2023年11月9日（周四）

時間：7:00 a.m. PST / 10:00 a.m. EST/ 15:00 GMT /16:00 CET /23:00 CST /24:00 JST

時長：35分鐘

演講人：順天堂大學(xué)研究生院 醫(yī)學(xué)研究科 老年病病理學(xué)治療研究中心

資深副教授 谷田以誠博士

報名費用：免費

◆CLEM用熒光恢復(fù)試劑

通過組合使用CLEM用熒光恢復(fù)試劑TUK Solution for multicolor與特定的熒光蛋白質(zhì)（CLEM-Red, CLEM-Green），可恢復(fù)被氧化鋨淬滅的樣品熒光。熒光恢復(fù)后可同時使用光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡對同一切片進(jìn)行觀察，實現(xiàn)更為精確的CLEM（需使用HB Solution清洗液進(jìn)行清洗）。

數(shù)據(jù)提供：順天堂大學(xué)研究生院醫(yī)學(xué)研究科 神經(jīng)疾病病理結(jié)構(gòu)學(xué)

內(nèi)山安男老師 谷田以誠老師

◆CLEM用熒光恢復(fù)試劑、清洗試劑

◆CLEM用載體