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北京亞科晨旭科技有限公司
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TESCAN 聚焦離子束-掃描電鏡 FERA XM

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號FERA XM

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地北京市

更新時間:2024-09-25 12:00:09瀏覽次數(shù):1046次

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二次電子圖象分辨率 3.5nm(30kV),nm 放大倍數(shù) 3×~1,000,000x
加速電壓 200V至30kVkV 價格區(qū)間 300萬-400萬
儀器種類 熱場發(fā)射
FERA3 XM是一款由計算機全控制的Xe等離子聚焦離子束(i-FIB)場發(fā)射掃描電子顯微鏡,可選配氣體注入系統(tǒng) (GIS),可在高真空和低真空模式下工作,其具有突出的光學性能、清晰的數(shù)字化圖像、成熟和用戶界面友好的SEM/FIB/GIS操作軟件等特點?;赪indows™平臺的操作軟件提供了簡易的電鏡操作和圖像采集,可以保存標準文件格式的圖片,可以對圖像進行管理、處理和測量,實現(xiàn)了電鏡的自動設置

 聚焦離子束(Xe)掃描電鏡 FERA

FERA3 XM是一款由計算機全控制的Xe等離子聚焦離子束(i-FIB)場發(fā)射掃描電子顯微鏡,可選配氣體注入系統(tǒng) (GIS),可在高真空和低真空模式下工作,其具有突出的光學性能、清晰的數(shù)字化圖像、成熟和用戶界面友好的SEM/FIB/GIS操作軟件等特點。基于Windows™平臺的操作軟件提供了簡易的電鏡操作和圖像采集,可以保存標準文件格式的圖片,可以對圖像進行管理、處理和測量,實現(xiàn)了電鏡的自動設置和許多其它自動操作。

  • 概述
  • 軟件
  • 技術(shù)規(guī)格
  • 配件
  • 圖片
  • 其他

分析潛力

  • 高亮度肖特基發(fā)射可獲得高分辨率,高電流和低噪聲的圖像
  • 選配的In-Beam二次電子探頭可獲取超高分辨率圖像
  • 三透鏡大視野觀察(Wide Field Optics™)設計提供了多種工作模式和顯示模式,體現(xiàn)了TESCAN*可優(yōu)化電子束光闌的中間鏡設計
  • 結(jié)合了完善的電子光學設計軟件的實時電子束追蹤(In-Flight Beam Tracing™)可模擬和進行束斑優(yōu)化
  • 成像速度快
  • 低電壓下的電子束減速模式(Beam Deceleration Technology – BDT)可獲取高分辨率圖像(選配)
  • In-Beam背散射電子探頭,用于在小工作距離下得BSE圖像(選配),甚至適合鐵磁性樣品
  • 全計算機化優(yōu)中心電動載臺設計優(yōu)化了樣品操控
  • *的幾何設計更適合安裝能譜儀(EDX)、波譜儀(WDX)、背散射電子衍射儀(EBSD)
  • 由于使用了強力的渦淪分子泵和干式前置真空泵,因而可以很快達到電鏡的工作真空。電子槍的真空由離子泵維持。
  • 自動的電子光路設置和合軸
  • 網(wǎng)絡操作和內(nèi)置的遠程控制/診斷軟件
  • 3維電子束技術(shù)提供實時立體圖像
  • 低真空模式下樣品室真空可達到500Pa用于觀測不導電樣品
  • *的離子差異泵(2個離子泵)使得離子散射效應超低
  • 聚焦離子束鏡筒內(nèi)有馬達驅(qū)動高重復性光闌轉(zhuǎn)換器
  • 聚焦離子束的標配包括了電子束遮沒裝置和法拉第筒
  • 高束流下超高的銑削速度和的性能
  • FIB切割、信號采集、3維重構(gòu)(斷層攝影術(shù)),3D EBSD、3D EBIC與集成3維可視化

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