產(chǎn)品分類 Leading相機(jī)系列- 隱藏 Leading線陣相機(jī) 深度制冷短波紅外相機(jī) Leading640短波紅外相機(jī) Leading320短波紅外相機(jī) 1550nm激光光斑跟蹤相機(jī) Raptor科學(xué)級相機(jī)- 隱藏 高幀頻1000FPS-EMCCD 深度制冷CCD-風(fēng)冷結(jié)構(gòu) 超高幀頻制冷CCD 深度制冷短波紅外SWIR相機(jī) 科學(xué)級深度制冷X-Ray相機(jī) SWIR短波紅外相機(jī) 高分辨率深度制冷CCD相機(jī) 高靈敏度EMCCD相機(jī) 高分辨率EMCCD相機(jī) 高幀頻電子倍增CCD相機(jī) 寬波段深度制冷EMCCD相機(jī) 銦鎵砷短波探測器- 隱藏 線陣短波InGaAs探測器 320×256InGaAs探測器 640×512InGaAs探測器 光電對抗測試產(chǎn)品系列- 隱藏 便攜式紅外發(fā)射率測量儀 數(shù)字紅外輻射計 IDQ單光子探測器/計數(shù)器- 隱藏 ID230單光子探測器/計數(shù)器 ID Qube NIR Free-Running紅外異步單光子探測器 ID Qube NIR Gated紅外單光子探測器 ID220單光子探測器/計數(shù)器 超導(dǎo)納米線單光子探測器 ID120單光子探測器/計數(shù)器 ID100單光子探測器/計數(shù)器 ID101OEM可見光光子計數(shù)器 ID900時間控制器 ID300短脈沖激光源 高光譜相機(jī)- 隱藏 LWIR長波高光譜相機(jī) MWIR中波高光譜相機(jī) SWIR短波紅外高光譜相機(jī) NIR近紅外高光譜相機(jī) 可見光-近紅外高光譜相機(jī) SI深度制冷CCD相機(jī)- 隱藏 SI-1600S大靶面COMS相機(jī) SI-1100S大靶面CCD相機(jī) SI-1000S深度制冷CCD相機(jī) SI-850S深度制冷CCD相機(jī) SI-800S深度制冷CCD相機(jī) 科學(xué)級相機(jī)- 隱藏 進(jìn)口短波紅外相機(jī) 夜視ICMOS相機(jī) 工業(yè)sCMOS相機(jī) 紫外相機(jī) 高分辨率天文學(xué)CCD相機(jī) 激光測距系列- 隱藏 激光測距模組 激光測距探測器（APD） 激光器 THz系列- 隱藏 TK絕對THz功率/能量計 THz功率計 THz時域光譜儀 THz相機(jī) THz源 THz超快探測器 紅外熱像儀- 隱藏 長波非制冷紅外熱像儀 長波制冷紅外熱像儀 中波制冷紅外熱像儀 目標(biāo)模擬器- 隱藏 多功能動態(tài)目標(biāo)模擬系統(tǒng) 紅外圖像目標(biāo)模擬器 激光模擬器 便攜式紅外目標(biāo)模擬器 紅外點源、干擾目標(biāo)模擬器 可見光目標(biāo)模擬器 專用光電測試系統(tǒng)- 隱藏 多譜段激光分布測試系統(tǒng) 大口徑平行光管 全自動定焦系統(tǒng) 紅外靈敏度測試系統(tǒng) 紅外導(dǎo)引、控制測試系統(tǒng) 告警能力探測概率測試系統(tǒng) 激光光電探測系統(tǒng)檢測裝置 野外便攜式多光軸平行性校正儀 大口徑平行光管測試儀 電視紅外圖像跟蹤性能檢測系統(tǒng) 紅外光學(xué)及成像測試系統(tǒng) 便攜式整機(jī)光學(xué)性能測試系統(tǒng) 激光膜層損傷閾值測試系統(tǒng) 多光譜多光軸測試系統(tǒng) 通用測試設(shè)備- 隱藏 光學(xué)傳遞函數(shù)測試儀 相機(jī)/熱像儀/激光測試系統(tǒng) 微區(qū)拉曼/PL光譜分析儀 激光波長計/激光功率計 點元光電探測器- 隱藏 光導(dǎo)碲鎘汞HgCdTe PC（1um-26um） 光伏碲鎘汞HgCdTe PV（0.5um-11um） 銻化銦InSb（1um-5.5um） 硫化鉛PbS（1.0um-3.5um） 砷化銦InAs（1.0um-3.8um） 銦鎵砷InGaAs（0.5um-2.6um） 鍺Ge（0.5um-1.8um） 硅Si（300nm-1100nm） 碳化硅SiC（190nm-450nm） 光纖滑環(huán)- 隱藏 光電組合滑環(huán) 多通道光纖滑環(huán) 雙通道光纖滑環(huán) 微型光纖滑環(huán) 單通道光纖滑環(huán) 光學(xué)鏡頭及光學(xué)元件- 隱藏 高精度光學(xué)元件 快速反射鏡 振鏡系列 聚焦可調(diào)鏡頭
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