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SB2204-3 智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種新穎的測(cè)量介質(zhì)損耗角正切(tgδ)和電容值(Cx)的自動(dòng)化儀器。可以在工頻高電壓下,現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗角正切(tgδ)和電容值(Cx)。與西林電容電橋相比,具有操作簡(jiǎn)單、自動(dòng)測(cè)量、讀數(shù)直觀、無需換算、精度高、抗干擾能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。
SB2204-3 智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)
標(biāo)準(zhǔn)回路*大電流50mA(In=UwCn)
測(cè)量?jī)?nèi)容 | tgδ范圍 | 電容量范圍(Cx) | 試品類型 | 基 本 誤 差 |
介質(zhì)損耗 因數(shù) tgδ | 0~0.5 | 50pF~60000pF | 非接地 | ±(1%讀數(shù)+0.0005) |
接地 | ±(1%讀數(shù)+0.0010) | |||
10pF~50pF或 60000pF以上 | 非接地 | ±(1%讀數(shù)+0.0010) | ||
接地 | ±(2%讀數(shù)+0.002) | |||
3pF~10pF | 非接地 與接地 | |||
電容量 | 50pF以上 | ±(1%讀數(shù)+1pF) | ||
50pF以下 | ±(1%讀數(shù)+2pF) |