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篤摯儀器（上海）有限公司
主營產(chǎn)品： 美能達色差計,尼克斯測厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測厚儀,防夾力測試儀 |
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| 參考價 | 面議 |
更新時間：2024-09-04 13:55:03瀏覽次數(shù)：3483
聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息，謝謝!
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,印刷包裝,冶金,航天,汽車 |
FERITSCOPERFMP30用于確定奧氏體和雙相鋼的鐵素體含量，并確定奧氏體材料中變形馬氏體的比例。
儲存和運輸以及校準標準
使用基礎(chǔ)和校準標準（鐵氧體標準品）對儀器進行歸一化和校準。
正確的校準標準條件是正確校準并因此進行正確測量的重要先決條件。
請遵守以下內(nèi)容以確保校準標準的正確條件：
為了在接觸測量期間將底座和校準標準件的磨損降至*低，請僅將它們用于校準，而不用于測試測量！
不要弄臟或刮擦校準標準！
用未損壞的干凈標準物替換腐蝕或刮傷的校準標準物或帶有強凹痕的標準物。
為防止校準標準品弄臟或損壞，請將其保存在隨附的包裝盒中以進行運輸和存儲。
鐵素體檢測儀fmp30的使用說明DEL鍵功能說明：
選出最后測得的讀數(shù)
重復(fù)按DEL：連續(xù)刪除openblock的讀數(shù)。
2 x DEL：在標準化過程中刪除所有讀數(shù)：
1x DEL-刪除最后一個讀數(shù)，
2x DEL-刪除基礎(chǔ)材料的測量系列。在校準期間：
1x DEL-刪除最后一個讀數(shù)，
2x DEL-刪除當前校準標準的測量系列。
重復(fù)按DEL鍵：刪除先前校準標準的測量系列。
..在所有菜單中：
DEL-返回上一級菜單或取消該過程。
所有可以連接到儀器的探頭在其連接器插頭中均配有一個存儲芯片，即所謂的EEPROM。 特定于探針的信息（例如，探針類型，生產(chǎn)編號，測量方法或主特性系數(shù)）被**存儲（即使沒有電源）在該存儲芯片中，該信息可能會被覆蓋多次 如預(yù)期的。接通儀器電源時，該信息將由儀器自動檢索和處理。 儀器“識別"連接的探頭。僅當使用分配給打開的應(yīng)用程序的探針進行測量時，才能執(zhí)行正確的測量。
各種探針模型可用于對具有不同形狀和不同表面特性的物體進行測量。 具有不同測量范圍的特殊探頭可用于以下應(yīng)用領(lǐng)域，例如：
特別粗糙或磨蝕的表面
特別柔軟的表面
表面受潮濕，酸性污染，特別是厚涂層或薄涂層
熱表面
管道和鉆孔中的涂層
有關(guān)可用的探頭型號和適合您的應(yīng)用的探頭型號，請參見手冊“測量探頭和測量輔助工具-優(yōu)化的探頭3"。相應(yīng)的探頭數(shù)據(jù)表。您可以從Helmut Fischer GmbH或授權(quán)的供應(yīng)商處獲得此手冊。
1. 為了獲得可以比較的結(jié)果，儀器必須用可以追溯到國際上接受的二級標準片校準。
2. 為此，IIW（英國國際焊接協(xié)會）發(fā)展了二級標準片，根據(jù)DIN EN ISO8249標準和ANSI/AWS A4.2標準規(guī)定的方法制造。
3. Helmut Fischer提供鑒定過的校準標準片供客戶校準儀器，這些標準片可以追溯到TWI二級標準片。
4. 標準片上標明了兩種單位：鐵素體個數(shù)FN和百分比含量%Fe。
5. 可通過發(fā)貨前設(shè)置修正系數(shù)或用客戶定制的標準片校準儀器來減少工件幾何形狀（曲率、厚度等）對測量的影響。
6. 不同的校準信息分別儲存在不同的應(yīng)用程式內(nèi)。
標準配置：FERITSCOPE® FMP30 604-300儀器，背帶，儀器箱，電池組，打印版操作指導(dǎo)，CD光盤（含操作說明和USB驅(qū)動程序，連接電纜FMP/PC
