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densoku電解式測(cè)厚儀的原理及特點(diǎn)

2022-12-23  閱讀(1063)

densoku電解式測(cè)厚儀的原理及特點(diǎn)

電解膜厚度測(cè)量原理

鍍膜厚度是通過陽極電解法溶解鍍膜來測(cè)量的,這是一種應(yīng)用規(guī)則測(cè)量鍍層厚度的方法 (陽極電解電路見圖1)在鍍膜結(jié)束時(shí),由于測(cè)量部分被恒定電流溶解,膜金屬消失,當(dāng)基體金屬出現(xiàn)時(shí),陽極電壓發(fā)生變化,并且檢測(cè)到此電壓變化以結(jié)束測(cè)量。(見圖二)

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電解膜測(cè)厚儀的特點(diǎn)

  • 雖然是破壞型測(cè)量,但可以通過簡(jiǎn)單的測(cè)量來測(cè)量,也可以測(cè)量多層電鍍。

  • 可測(cè)量雙鎳、三鎳各層膜厚及電位差

  • 可以分別測(cè)量銅鍍錫時(shí)形成的純錫層和合金層的厚度。

  • 可以測(cè)量 X 射線無法測(cè)量的厚多層鍍層(最大 300 μm)

  • 通過使用線測(cè)試儀,可以測(cè)量細(xì)線的電鍍膜厚度。

使用示例

  • 鍍錫線(鍍錫銅線)純錫層厚度測(cè)量

  • 汽車外飾件用Cr/Ni/Cu三層鍍層測(cè)量,鍍Ni用
    雙鎳/三鎳電位差測(cè)量

  • 與非破壞性薄膜測(cè)厚儀的測(cè)量結(jié)果進(jìn)行交叉檢查


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