DIATEST塞規(guī)具有高精密靜態(tài)孔徑測量和動態(tài)孔徑測量功能。既可用于手動檢測尺寸偏差和形狀缺陷錯誤的孔徑檢測儀器，也可以安裝在測量設(shè)備和自動化系統(tǒng)上。測量范圍從Ø 2.98到270mm，測量深度：0.6-2000mm，重復(fù)精度：≤1μm，線性誤差：≤1％，使用壽命：滿足100萬次以上測量要求。

DIATEST塞規(guī)特點：

• 快速測量孔直徑、孔的圓度和孔的橢圓度
• 尤其適用于手動和自動測量大批量生產(chǎn)的高公差等級內(nèi)孔零件
• 自動定中心，測量時不用在孔內(nèi)尋找拐點
• 使用數(shù)顯顯示表讀數(shù)和對測量結(jié)果進(jìn)行后續(xù)分析的理想選擇
• 孔徑測量儀的測頭由鍍硬鉻圓柱導(dǎo)向體和碳鋼測點組成
• 碳鋼測針將測點的徑向移動距離1:1傳遞給顯示表
• 內(nèi)置式彈性體提供了連續(xù)的測力，因此消除了人為因素
• 孔徑測量儀由塞規(guī)式測頭、手柄、深度延長桿、限位塊和直角附件等組成模塊式系統(tǒng)，使用范圍廣泛
• 適用范圍：通孔、盲孔、錐孔、臺階孔、方孔等

?

DIATEST標(biāo)準(zhǔn)塞規(guī)式測頭形式

BMD-S4-CR-7.04、BMD-S6-CR-10.0、BMD-S10-CR-39.993、BMD-S10-CR-124.96

DIATEST通孔塞規(guī)式測頭形式

BMD-D4-CR-4.98、BMD-D6-CR-10.0、BMD-D10-CR-41.97

BMD-D10-CR-59.977、BMD-D10-CR-100.00

DIATEST盲孔塞規(guī)式測頭形式

BMD-FB6-CR-8.984

BMD-FB10-CR-41.973

BMD-FB10-CR-59.977

BMD-FB10-CR-100.00

DIATEST自動測量用塞規(guī)式測頭

BMD-D10-CR-30.0-RK

BMD-D10-CR-30.0-PK-2Z-Φ2Z=30-0.4mmm

BMD-D10-OCR-30.0-RK-ZHML

DIATEST特殊形式BMD塞規(guī)式測頭

BMD-S10-CR-28.0-S-FB-L1=3.0

BMD-S10-CR-30.0-OR-FASE0.5x45°

BMD-S10-CR-30.0-UM

BMD-S10-CR-10.0-2R

BMD-S10-CR-35.0-3P

BMD-D10-CR-28.0-SO-TA-L3=11

DIATEST測量平行槽用PA測頭

BND-PA-4-S-MCR-4.35、BND-PA-4-S-MCR-6.3

DIATEST多截面測頭

BMD-1ME、BMD-2ME-13-10、BMD-2ME-13-12、BMD-2ME-15-9、BMD-2ME-15-18

BMD-2ME-20-1、BMD-2ME-20-2、BMD-3ME-13、BMD-3ME-20、BMD-3ME-0-24-1

BMD-4ME-20-1、BMD-4ME-24-26-2、BMD-4ME-24-26-3、BMD-4ME-24-26-4

BMD-4ME-24-26-5、BMD-4ME-24-26-6、BMD-8ME-20-38

?