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BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動態(tài)光散 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù)，可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。

產(chǎn)品介紹

BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動態(tài)光散 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù)，可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。

納米粒度及Zeta電位分析儀基本性能指標

粒徑檢測

原理	動態(tài)光散射技術(shù)
粒徑范圍	0.3 nm – 15 μm
樣品量	3 μL – 1 mL
檢測角度	90 ° + 12°
分析算法	Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zeta電位測試

原理	相位分析光散射技術(shù)
檢測角度	12°
Zeta范圍	無實際限制
電泳遷移率范圍	＞±20 μ.cm/V.s
電導率范圍	0 - 260 mS/cm
Zeta測試粒徑范圍	2 nm – 110 μm

分子量測試

分子量范圍

342 Da – 2 x 10⁷ Da

微流變測試

頻率范圍

0.2 – 1.3 x 10⁷ rad/s

測試能力

均方位移、復數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span>

折光率和粘度測試

粘度范圍

0.01 cp – 100 cp

折光率范圍

1.3-1.6

趨勢測試

時間和溫度

系統(tǒng)參數(shù)

溫控范圍	-15°C - 110°C
冷凝控制	干燥空氣或者氮氣
標準激光光源	50 mW 高性能固體激光器， 671 nm
相關(guān)器	快25 ns采樣，多 4000通道，10¹¹動態(tài)線性范圍
檢測器	APD （高性能雪崩光電二極管）
光強控制	0.0001% - 100%，手動或者自動

軟件

中文和英文

符合21CFR Part 11

檢測參數(shù)

●顆粒體系的光強、體積、面積和數(shù)量分布

●顆粒體系的 Zeta 電位及其分布

●分子量

●分布系數(shù) PD.I

●擴散系數(shù) D

●流體力學直徑 DH

●顆粒間相互作用力因子 kD

●溶液粘度

檢測技術(shù)

●動態(tài)光散射

●電泳光散射

●相位分析光散射

●靜態(tài)光散射

相關(guān)技術(shù)

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相關(guān)應用

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