HTN-X2手持式合金元素分析儀

產(chǎn)品概述：

由 X 射線管發(fā)出的一次 X 射線激發(fā)樣品，使樣品所含元素輻射特征熒光 X 射線，根據(jù)其不同的能量及強度值對被測樣品中元素進行定性和定量分析。

主要結構：

前置放大器：可以減少電纜衰減，防止主放大器反饋對探測器的影響。

探測器：采用硅漂移探測器，具有噪聲低、分辨率高，而且高技術性能佳。脈沖高度選擇器將攝入 X 攝像的光子能量分開。

主放：將遷至放大器的輸出脈沖進行線性放大，使其電壓高度足以啟動脈沖高度分析器，具有線性放大、增益穩(wěn)定、噪聲低、過載恢復快，熱穩(wěn)定型良好等特點。

產(chǎn)品特點：

自動或手動測試模式，固體、液體、粉末樣品均可直接測定，可顯示為結果模式或圖譜模式；

為了確保未知樣品測試結果的準確性，自帶標準化校準功能。另外，隨機附帶標準樣塊；

鋰電池、外接電源適配器均可使用， 8 小時連續(xù)工作射線穩(wěn)定性不小于 0.2% ；

支持簡體中文、英語、韓語三種語言操作界面；

外形小巧，手持應用，實施隨地進行現(xiàn)場檢測分析，方便野外工作；

32G 容量 SD 卡能海量存儲測試數(shù)據(jù)， U 盤 USB 接口外接 8G 容量隨時傳輸測試數(shù)據(jù)；

200W 像素攝像頭可拍照、錄像。清晰記錄測試位置，并能將數(shù)據(jù)直接顯示在拍攝的圖片上；

無損檢測，對試樣表面不產(chǎn)生任何破壞。

技術參數(shù)：

標準配件：

金屬元素分析儀、32G容量SD卡、8G容量U盤、觸摸筆、鋰電池、使用說明書、電源適配器、標準樣塊、十字螺絲刀、包裝箱。