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LensThick非接觸式光學(xué)測厚儀利用低相干光干涉測量方法來精確測量厚度，以寬譜光源作為相干光源，其相干長度短，只有在測量光和參考光的光程相等時才能產(chǎn)生干涉峰值，因此具有很好的空間定位特性，測厚儀內(nèi)置光學(xué)干涉儀，通過計算透鏡前后鏡面頂點對應(yīng)干涉峰之間的距離變化可以得出透鏡的中心厚度。

LensThick非接觸式光學(xué)測厚儀的操作簡單，每次可輕松獲得可靠的厚度值。測量數(shù)據(jù)經(jīng)過數(shù)字信號處理器計算，通過USB傳輸?shù)絇C，再以圖形的形式顯示在用戶界面，可直接讀取每層厚度值，操作更簡單、更直觀。
典型應(yīng)用 

• 光學(xué)元件和透鏡組件：測量單個鏡片以及鏡頭組包括空氣間隔

• LCD、LED、OLED和AMOLED顯示屏：測量總厚度和各層厚度，包括LOCA（液體光學(xué)透明粘合劑）層

• 拋光玻璃：測量化學(xué)腐蝕前后的厚度或拋光工藝，使玻璃板更薄、更輕

• 半導(dǎo)體：硅/砷化鎵晶片

主要優(yōu)勢

測量過程
將光學(xué)測量頭對準(zhǔn)被測產(chǎn)品。
激光通過光學(xué)測量頭照射到材料表面。
光學(xué)測量頭收集反射光并將其返回到系統(tǒng)的干涉儀進(jìn)行分析。
測量數(shù)據(jù)通過USB傳輸?shù)诫娔X。
LensThick軟件用于顯示測量結(jié)果、設(shè)置參數(shù)及輸出數(shù)據(jù)報告。

測量軟件
光學(xué)測厚儀使用LensThick軟件可實時顯示被測試產(chǎn)品的厚度和干涉信號，以便實時優(yōu)化。
自動峰值模式：使用操作員創(chuàng)建的樣品設(shè)計文件，可以定義最多32個反射面（31層）的預(yù)期峰值位置，軟件可自動識別在適合的閾度內(nèi)接近預(yù)期峰值位置的峰值，從而計算并輸出每層的厚度。
此外，軟件還帶有判據(jù)功能，即超出設(shè)計值的公差范圍，數(shù)據(jù)顯示為紅色。這些功能對質(zhì)量控制是非?？焖儆行У摹?br style="-webkit-tap-highlight-color: rgba(255, 0, 0, 0)"/> 

軟件界面	測量原理圖