X-ray鍍層測(cè)厚儀_天瑞儀器 介紹
早期，X熒光鍍層測(cè)厚儀基本被國(guó)外廠家（德國(guó)費(fèi)希爾，日本精工，牛津等）壟斷，用戶(hù)可以選擇的廠家比較少。天瑞儀器1992年開(kāi)始做光譜儀，是一家生產(chǎn)光譜儀的廠家，在X熒光鍍層檢測(cè)方面，*打破國(guó)外的技術(shù)壟斷。天瑞Thick800A內(nèi)置了天瑞研發(fā)的信噪比增強(qiáng)器與數(shù)字多道分析器，在測(cè)試精度可以與進(jìn)口設(shè)備PK過(guò)程中不落下風(fēng)。超低的檢出限使儀器的性能在與進(jìn)口設(shè)備（費(fèi)希爾，精工，牛津等）PK過(guò)程中不落下風(fēng)；儀器使用方便，測(cè)試快捷，可以測(cè)試鍍金、鍍鎳、鍍銅、鍍鉻、鎳鋅、鍍銀、鍍鈀等金屬鍍層厚度。

X-ray鍍層測(cè)厚儀_天瑞儀器 鍍層厚度測(cè)試方法一般有以下幾種方法：1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T6462-20052、X-ray法（X射線法）。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T16921-20053、庫(kù)侖法，此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T4955-2005測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)1國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000          金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法         2.美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
天瑞Thick800A具如下特點(diǎn)：1. 高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm；2. 采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度滿(mǎn)足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求；3. φ0.2mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿(mǎn)足微小測(cè)試點(diǎn)的需求；4. 定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊；5. 鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)的位置就是被測(cè)點(diǎn)；6. 高分辨率探頭使分析結(jié)果更加，微小測(cè)試點(diǎn)更；7. X射線鍍層測(cè)厚儀廠家優(yōu)勢(shì)在于滿(mǎn)足客戶(hù)要求的情況下，價(jià)格更優(yōu)惠、售后服務(wù)更方便，維護(hù)成本更低。 測(cè)試實(shí)例鍍鎳器件是比較常見(jiàn)的電鍍器件，其鎳鍍層在保護(hù)銅基體免受氧化同時(shí)還能起到美觀的作用。這里以測(cè)試客戶(hù)的一件銅鍍鎳樣品為例說(shuō)明此款儀器的測(cè)試效果。
以下使用Thick800A儀器對(duì)銅鍍鎳樣品實(shí)際測(cè)試Ni層厚度，七次的結(jié)果其標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。且可在樣品上進(jìn)行定位測(cè)試，其測(cè)試位置如圖。