非接觸方式

　　利用過(guò)程測(cè)量方式，高壓斷路器機(jī)械特性測(cè)試儀不僅可實(shí)現(xiàn)對(duì)參數(shù)的科學(xué)精確測(cè)試，還可實(shí)現(xiàn)對(duì)高壓斷路器機(jī)械特性中位移、速度的非接觸測(cè)試。

　　目前，高壓斷路器機(jī)械特性測(cè)試儀在位移、速度的測(cè)試方面基本都采用接觸方式來(lái)獲得高壓斷路器的位移、速度信息，也就是必須將位移傳感器接觸安裝在斷路器的聯(lián)動(dòng)部分，通過(guò)接觸斷路器的運(yùn)動(dòng)來(lái)感受其運(yùn)動(dòng)信息。由于高壓斷路器的結(jié)構(gòu)和形狀各異，因此該方式在現(xiàn)場(chǎng)的測(cè)試中十分困難，甚至不可能實(shí)現(xiàn)。

　　利用光反射偏移原理可實(shí)現(xiàn)對(duì)高壓斷路器速度、位移的非接觸測(cè)試。光電測(cè)量位移、速度原理圖見(jiàn)圖4。

　　 　　 　　            圖4　光電測(cè)量位移、速度原理圖

　　從圖4中可以看出，被測(cè)物體在從位置h2運(yùn)動(dòng)到位置h1時(shí)，通過(guò)被測(cè)物體反射到測(cè)試平面的光線從S2運(yùn)行到S1 ，通過(guò)幾何關(guān)系很容易算出被測(cè)物體的位移h=h1-h2與測(cè)試平面的感受位移S=S1-S2之間的關(guān)系h=S/(2tgθ)由于θ值是已知的，S是可測(cè)量的，所以，可以通過(guò)反射光的偏移位移得到被測(cè)物體本身的位移h。由于光的速度很快，只要測(cè)試平面的掃描速度足夠快（20 kHz即50μs）即能夠?qū)\(yùn)動(dòng)物體的位移、速度實(shí)現(xiàn)非接觸測(cè)試。