由于大氣中浮游電荷吸附在材料表面上，熱釋電效應(yīng)中自發(fā)極化產(chǎn)生的電荷會(huì)很快被大氣中浮游電荷中和而消失，故熱釋電探測(cè)器不能測(cè)直流信號(hào)。要保證產(chǎn)生電荷的連續(xù)性，要有周期性變化的熱源。

   利用熱釋電效應(yīng)做紅外敏感器件，將物體輻射的紅外線做熱源，采用周期性遮光調(diào)制，從紅外熱源持續(xù)性獲得交變紅外線輻射，產(chǎn)生熱釋電荷，可完成非接觸式檢測(cè)。

圖爾克接近開(kāi)關(guān)BI5U-EG18SK-VP4X

   熱釋電探測(cè)器接近開(kāi)關(guān)有如下特點(diǎn)：可在室溫下工作，但使用溫度低于熱釋電元件材料的居里點(diǎn)；屬于交流器件，對(duì)恒定輻射無(wú)響應(yīng)，該恒定輻射經(jīng)調(diào)制斬波轉(zhuǎn)換為交流或使用脈沖輻射；是高阻抗器件，需使用高阻抗低噪聲的阻抗變化器。

1. 使用初期的故障圖爾克接近開(kāi)關(guān)BI5U-EG18SK-VP4X

以遠(yuǎn)距離光電開(kāi)關(guān)、接近開(kāi)關(guān)等為主體的檢測(cè)開(kāi)關(guān)，半導(dǎo)體一般會(huì)在使用初期發(fā)生故障。

其原因是使用在回路中的半導(dǎo)體，在制造中受到種種應(yīng)力而導(dǎo)致在使用開(kāi)始后的短期內(nèi)發(fā)生破損；另外，功率比半導(dǎo)體低的電阻、電容也是造成使用初期故

障的原因。初期故障的發(fā)生時(shí)間，根據(jù)制造方法的不同而不同，不能一概而論，一般多發(fā)生在使用開(kāi)始后的一星期到10天內(nèi)。

以遠(yuǎn)距離光電開(kāi)關(guān)、接近開(kāi)關(guān)等為主體的檢測(cè)開(kāi)關(guān)，半導(dǎo)體一般會(huì)在使用初期發(fā)生故障。

其原因是使用在回路中的半導(dǎo)體，在制造中受到種種應(yīng)力而導(dǎo)致在使用開(kāi)始后的短期內(nèi)發(fā)生破損；另外，功率比半導(dǎo)體低的電阻、電容也是造成使用初期故

障的原因。初期故障的發(fā)生時(shí)間，根據(jù)制造方法的不同而不同，不能一概而論，一般多發(fā)生在使用開(kāi)始后的一星期到10天內(nèi)。