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博曼(Bowman)XRF鍍層測(cè)厚儀 O系列

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  • 型號(hào) O系列
  • 品牌 BOWMAN/英國
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 上海市
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更新時(shí)間:2020-03-06 20:52:13瀏覽次數(shù):821

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價(jià)格區(qū)間 面議 應(yīng)用領(lǐng)域 石油,能源,電子
博曼(Bowman)XRF鍍層測(cè)厚儀 O系列采用毛細(xì)管光學(xué)結(jié)構(gòu),擁有精準(zhǔn)的測(cè)試性能,同時(shí)能實(shí)現(xiàn)極小的X射線光斑尺寸。該系列用毛細(xì)管結(jié)構(gòu)取代了安裝在博曼標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型中的準(zhǔn)直器組件。由于多導(dǎo)毛細(xì)管可以傳遞數(shù)百倍的能量信號(hào),可以有效提高到達(dá)樣品表面的入射X射線強(qiáng)度。O系列配備高分辨率的SDD探測(cè)器,在短時(shí)間內(nèi)捕捉并處理大量數(shù)據(jù),在短時(shí)間內(nèi)滿足極小斑點(diǎn)的測(cè)量的同時(shí)獲取精準(zhǔn)的測(cè)量結(jié)果(準(zhǔn)確性和重復(fù)性)。

詳細(xì)介紹

博曼O系列產(chǎn)品概述:

博曼(Bowman)XRF鍍層測(cè)厚儀 O系列采用毛細(xì)管光學(xué)結(jié)構(gòu),擁有精準(zhǔn)的測(cè)試性能,同時(shí)能實(shí)現(xiàn)極小的X射線光斑尺寸。該系列用毛細(xì)管結(jié)構(gòu)取代了安裝在博曼標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型中的準(zhǔn)直器組件。由于多導(dǎo)毛細(xì)管可以傳遞數(shù)百倍的能量信號(hào),可以有效提高到達(dá)樣品表面的入射X射線強(qiáng)度。O系列配備高分辨率的SDD探測(cè)器,在短時(shí)間內(nèi)捕捉并處理大量數(shù)據(jù),在短時(shí)間內(nèi)滿足極小斑點(diǎn)的測(cè)量的同時(shí)獲取精準(zhǔn)的測(cè)量結(jié)果(準(zhǔn)確性和重復(fù)性)。

該系列采用80μm毛細(xì)管光學(xué)結(jié)構(gòu),同時(shí)配備可處理更高計(jì)數(shù)速率的高分辨率SDD硅漂移探測(cè)器。O系列的相機(jī)具有更大的放大倍數(shù),擁有45x視頻放大和5x數(shù)碼變焦。一個(gè)可編程的XY樣品臺(tái)也是標(biāo)準(zhǔn)配置。O系列的焦距非常接近,所以使用時(shí)樣品必須平整。

 

博曼(Bowman)XRF鍍層測(cè)厚儀 O系列可滿足以下類型用戶的需求:

- 極小的樣品,如半導(dǎo)體,連接器或PCB

- 需要測(cè)試多個(gè)樣品的多個(gè)位置

- 需要測(cè)量非常薄的涂層(<100nm)

- 需要在短時(shí)間內(nèi)完成測(cè)量(1-5秒)

- 符合IPC-4552A

 

博曼O系列產(chǎn)品參數(shù):

類別

參數(shù)

元素測(cè)量范圍:

X射線管:

探測(cè)器:

分析層數(shù)及元素?cái)?shù):

濾波器/準(zhǔn)直器:

焦距:

數(shù)字脈沖器:

計(jì)算機(jī):

 

相機(jī):

電源:

重量:

可編程XY平臺(tái):

樣品倉尺寸:

外形尺寸:

13號(hào)鋁元素到92號(hào)鈾元素

50 W鉬鈀射線管 80um毛細(xì)管光學(xué)結(jié)構(gòu)

135eV及以上分辨率的硅漂移探測(cè)器

5層(4層+基材) 每層可分析10種元素,成分分析至多可分析25種元素

2位置一次過濾器

固定焦距(0.1")

4096 多通道數(shù)字處理器,自動(dòng)死時(shí)間和逃逸峰校正

英特爾, 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 內(nèi)存, 微軟 Windows 10 專業(yè)版, 64位

1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率,250X雙攝像頭或45X單攝像頭

150W,100-240V,頻率范圍為47Hz至63Hz

53kg

平臺(tái)尺寸:15"x 13"| 行程:6"x 5"

高度:140mm(5.5"),寬度:310mm(12"),深度:340mm(13")

高度:450mm(18"),寬度:450mm(18"),深度:600mm(24")

 

關(guān)于美國博曼:

美國博曼(Bowman)是高精度臺(tái)式鍍層測(cè)厚儀供應(yīng)商,擁有近40年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)。博曼XRF系統(tǒng)搭載擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的鍍層檢測(cè)技術(shù)和*的軟件系統(tǒng),可精準(zhǔn)高效地分析金屬鍍件中元素厚度和成分。博曼XRF系統(tǒng)可同時(shí)測(cè)量包含基材在內(nèi)的五層元素,其中任何兩層元素可以是合金。同時(shí),博曼XRF系統(tǒng)也可以測(cè)量高熵合金(HEAs)。

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