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XRF涂層厚度測量

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參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 型號
  • 品牌 BOWMAN/英國
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 上海市
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更新時間:2020-03-06 21:19:56瀏覽次數(shù):1207

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產(chǎn)品簡介

價格區(qū)間 面議 應用領域 石油,能源,電子
XRF涂層厚度測量 L系列是博曼的通用機型。該系列將更大的樣品室和更大的XY平臺相結(jié)合。對于大的鍍件,L系列是*品。大樣品臺和XY行程可實現(xiàn)大鍍件的多點測量。 封閉式樣品倉可容納12“x22“x24“(LxWxH)的樣品。XY平臺的行程為13“x10“。

詳細介紹

XRF涂層厚度測量L系列產(chǎn)品概述:

L系列是博曼的通用機型。該系列將更大的樣品室和更大的XY平臺相結(jié)合。對于大的鍍件,L系列是*品。大樣品臺和XY行程可實現(xiàn)大鍍件的多點測量。 封閉式樣品倉可容納12"x22"x24"(LxWxH)的樣品。XY平臺的行程為13"x10"。

標準配置包括一個4位置多準直器組件,以及一個可在凹陷區(qū)域進行測量的變焦相機。 與其他型號一樣,準直器尺寸和焦距可根據(jù)不同的客戶應用進行定制。 包括可編程的XY平臺,為了滿足更大樣品測測量,XY平臺可以移除。探測器采用硅PIN半導體探測器,可升級為高性能SDD探測器。

 

XRF涂層厚度測量L系列

可滿足以下類型用戶的需求:

- 樣品的長寬高分別超過12"但小于24"

- 需容納多個樣品進行自動化多點測量

- 可擴展到更大尺寸的樣品,用于未來的項目

- 符合IPC-4552A

 

博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀 L系列產(chǎn)品參數(shù):

類別

參數(shù)

元素測量范圍:

X射線管:

探測器:

分析層數(shù)及元素數(shù):

濾波器/準直器:

焦距:

數(shù)字脈沖器:

計算機:

 

相機:

電源:

重量:

可編程XY平臺:

樣品倉尺寸:

外形尺寸:

13號鋁元素到92號鈾元素

50 W(50kV和1mA)微聚焦射線管

190eV及以上分辨率的Si-PIN固態(tài)探測器

5層,每層可分析10種元素,成分分析至多可分析25種元素

4位置一次過濾器/4種規(guī)格準直器

可變焦

4096 多通道數(shù)字處理器,自動死時間和逃逸峰校正

英特爾, 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 內(nèi)存, 微軟 Windows 10 專業(yè)版, 64位

1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率

150W,100-240V,頻率范圍為47Hz至63Hz

110kg

平臺尺寸:10"x 10"| 行程:10"x 10"

高度:280mm(11"),寬度:550mm(22"),深度:600mm(24")

高度:750mm(30"),寬度:700mm(28"),深度:750mm(30")

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