Femto TEM A三合一超快透射電子顯微鏡解決方案采用飛秒級(jí)激光激發(fā)陰極電子束，同時(shí)在電子槍和聚光透鏡之間引入脈沖發(fā)生器，該脈沖發(fā)生器可通過(guò)皮秒級(jí)射頻電激發(fā)電子束并可保持原始透射電子顯微鏡的光束質(zhì)量，并在脈沖發(fā)生器關(guān)閉時(shí)對(duì)正常操作的影響最小（理想情況下沒(méi)有），通過(guò)同頻異步雙激發(fā)可實(shí)現(xiàn)飛秒級(jí)時(shí)間分辨率（光激發(fā)），并保持 TEM 的原始固有空間分辨率（電激發(fā)）。再融合飛秒激光泵浦樣品聯(lián)動(dòng)，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的超快表征。

技術(shù)參數(shù)：    

• 能量范圍：100~300 keV（光激發(fā)）、100~300 keV（電激發(fā)）

• 電子束頻閃率：200kHz~25MHz（光激發(fā)）、15MHz~12GHz（電激發(fā)）

• 電子脈沖長(zhǎng)度：300fs（光激發(fā)）、5ps~period-1us（電激發(fā)）

• 輻射安全

• 與 TEM 腔真空兼容

• 在電激發(fā)下保持 TEM 的原始固有空間分辨率。

應(yīng)用：

•      Low-damage/Low-dose電子顯微鏡

–     CryoEM

–     LDA研究，生物大分子

–     超敏感分子的特性研究

–     蛋白質(zhì)

–     納米工程結(jié)構(gòu)分析

•      室溫Low-damage顯微鏡

–     提高有機(jī)材料表征時(shí)的總電子劑量

–     直流束流的晶體衰落值增加2倍（紅色箭頭）

•      電子全息技術(shù)

•      電子三維重構(gòu)

•      時(shí)間分辨顯微鏡

–     泵浦探針頻閃顯微鏡（射頻泵浦，束流探頭）

–     在射頻激勵(lì)下確定MEM器件中的電場(chǎng)特性

        1.    磁性和等離子設(shè)備的自旋電子學(xué)

         2.    NEMS / MEMS高頻設(shè)備