WaveDriver200

型號：WaveDriver200

品牌：美國PINE

產(chǎn)地：美國

PINE公司推出新一代WaveDriver200恒電位儀/恒電流儀/零電阻電流計，可以用于兩電極、三電極、四電極模式，具有交流阻抗功能（EIS），可以廣泛地應(yīng)用于燃料電池、鋰電池、太陽能電池、隔膜、超級電容器、傳感器、涂層、緩蝕劑、物理化學(xué)等研究領(lǐng)域，經(jīng)典應(yīng)用為旋轉(zhuǎn)圓盤圓環(huán)電極（RRDE）測試。

主要特點(diǎn)：

高性價比、雙恒電位儀（四電極模式）、RRDE測試功能強(qiáng)大（6種測量模式）、EIS交流阻抗測試功能強(qiáng)大、軟件功能強(qiáng)大（可建測試模板、可編程測試等）。

詳細(xì)介紹：

接線：兩電極、三電極、四電極模式

具備浮地功能

最小電壓分辨率：78μV

最小電流分辨率：3.13pA

轉(zhuǎn)換速率：最快10 V/μs

紋波噪聲：＜10mVRMS

模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器：16bit

順從電壓：±17V

泄漏電流：＜10pA

帶寬（3dB）：＞15 MHz

最大采樣點(diǎn)：1000萬個/每次實(shí)驗(yàn)

儀器尺寸：160（寬）*255（高）*324（長）mm

儀器重量：4.6kg

IR補(bǔ)償：交流阻抗法（EIS）、電流中斷法（CI）、正反饋法（PF）

EIS交流阻抗參數(shù)

交流阻抗頻率范圍：10μHz-1 MHz

頻率精度：±10ppm

數(shù)據(jù)曲線：Lissajous、Bode、Nyqusit、 Mott-Schottky

數(shù)據(jù)模型：Circuitfit、Transmissionline、Kramers-Kronig

Circuit fitting方法：修正的Levenberg-Marquardt法、Simplex法、Powell法

Circuit fitting選項(xiàng)：動態(tài)選擇點(diǎn)、單位和參數(shù)

掃描方式：線性、對數(shù)、自定義

RRDE測試方法

Rotating Ring-Disk Voltammetry 旋轉(zhuǎn)圓盤圓環(huán)電極測試方法（RRDE）。        RRDE方法包含6種測試模式，功能強(qiáng)大。

Collection Mode：盤電極設(shè)置CV或LSV方法，環(huán)電極設(shè)置恒電壓CA方法；

Shielding Mode：盤電極設(shè)置恒電壓CA方法，環(huán)電極設(shè)置CV或LSV方法；

Window Mode：盤和環(huán)電極同時設(shè)置CV或LSV方法；

Diametric Mode：盤電極和環(huán)電極同時設(shè)置CV或LSV方法，但是呈鏡像測試；

Galvanostatic Mode：盤電極設(shè)置CV方法，環(huán)電極設(shè)置恒電流CP方法；

Galvanostatic ShieldingMode盤電極設(shè)置恒電流CP方法，環(huán)電極設(shè)置CV方法。

電壓參數(shù)

最大施加電壓：±15V

準(zhǔn)確性：±0.2%（設(shè)定電壓）、±0.05%（測量電壓）

電壓量程：3檔（±2.5 V, ±10 V, ±15 V）

電壓分辨率：對應(yīng)上述3檔量程分別為78 μV/bit、313 μV/bit和469μV/bit

電流參數(shù)

最大施加電流：±1A

適用電流工作范圍：±5pA到±1 A

準(zhǔn)確性：±0.2%（設(shè)定電流）、±0.05%（測量電流）

電流量程：8檔（從±100 nA到±1 A）

電流分辨率：0.0031%

電化學(xué)方法

Open Circuit Potential 開路電位法（OCP）

Bulk electrolysis 電解法（BE）

Cyclic Voltammetry 循環(huán)伏安法（CV）

Linear Sweep Voltammetry線性掃描伏安法（LSV)

Spectroelectrochemistry 光譜電化學(xué)測試方法（SPECE）

Staircase Voltammetry 階躍伏安法（SCV）

Chronoamperometry 計時電流法/恒電位法（CA)

Double Potential StepChronoamperometry 雙電位階躍計時電流法(DPSCA)

Cyclic StepChronoamperometry 循環(huán)階躍計時電流法（CSCA）

Chronopotentiometry 計時電位法（CP）

Ramp Chronopotentiometry斜坡計時電位法（RCP）

StaircasePotentiometry  階躍計時電位法（SCP）

Cyclic StepChronopotentiometry 循環(huán)階躍計時電位法（CSCP）

Differential pulseVoltammetry 差分脈沖伏安法（DPV）

Square-Wave Voltammetry 方波循環(huán)伏安法 （SWV）

NormalPulse Voltammetry 常規(guī)脈沖伏安法（NPV）

RotatingMethods 旋轉(zhuǎn)圓盤圓環(huán)電極測試方法

RotatingDisk Voltammetry (RDE)

RotatingDisk Koutecky-Levich (KL-RDE)

RotatingDisk Electrolysis (BE-RDE)

RotatingDisk Chronopotentiometry (CP-RDE)

RotatingDisk Ramp Chronopotentiometry (RCP-RDE)

RotatingRing-Disk Voltammetry (RRDE)

RotatingRing-Disk Electrolysis (BE-RRDE)

RotatingRing-Disk Koutecky-Levich (KL-RRDE)