Eksma 光學(xué)平面--光學(xué)元件

Eksma 光學(xué)平面--光學(xué)元件

光學(xué)平面用于測(cè)試和評(píng)估其他光學(xué)元件。我們提供單面光學(xué)平面，其參考面的平坦度為λ/ 20 @ 633 nm。

產(chǎn)品介紹

Ø參考面的平面度：λ/ 20

Ø非常適合測(cè)試和評(píng)估其他光學(xué)組件

光學(xué)平面用于測(cè)試和評(píng)估其他光學(xué)元件。在公寓和被評(píng)估對(duì)象之間的空氣中會(huì)形成干涉圖案，通常通過(guò)公寓而不是通過(guò)對(duì)象可以看到這種圖案。圖案由交替的亮帶和暗帶或條紋組成，它們是氣膜厚度的輪廓圖。如果光學(xué)元件的表面比要評(píng)估的表面明顯平坦，則將干涉圖樣直接解釋為要評(píng)估的表面的輪廓圖是正確的。

如果將平面用于對(duì)象的頂部，并且通過(guò)平面看到干涉圖案，則在平面的頂表面（不接觸被評(píng)估對(duì)象的表面）上具有抗反射鍍膜是有利的。

產(chǎn)品型號(hào)