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*軟件界面僅供參考
純中文的操作界面
功能設計簡單易操作。符合國人使用習慣,即使是新手用戶,簡單了解后也能快速上手。
完善的自動化功能
自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散,均可一鍵調節(jié),提高工作效率。
豐富的測量工具
長度、面積、圓度、角度等測量功能強大的照片管理和預覽、編輯功能。
光學導航
想看哪里點哪里,導航更輕松
標配光學導航攝像頭,可拍攝高清樣品臺照片,快速定位樣品。
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防撞設計
對新手更友好的防碰撞設計,最大限度保護敏感單元。
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一鍵成像
*軟件一鍵成像,新手也能輕松駕馭。
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分析距離
最佳分析距離和成像距離二合一,輕松體驗優(yōu)質性能。
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SEM2000軟件支持一鍵切換SE和BSE的混合成像。可同時觀察到樣品的形貌信息和成分信息。
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SE:3.9 nm @20 kV
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BSE:4.5 nm @ 20 kV
高靈敏度背散射探測器
· 多通道成像
探測器設計精巧,靈敏度高,采用4分割設計,無需傾斜樣品,可獲得不同方向的陰影像以及成分分布圖像。
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四個單通道的陰影像
成分像
· 二次電子成像和背散射電子成像對比
背散射電子成像模式下,荷電效應明顯減弱,并且可以獲得樣品表面更多的成分信息。
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鐵礦石-(SE)
鐵礦石-(BSE)
能譜
金屬夾雜物能譜面掃分析結果。
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電子背散射衍射
鎢燈絲電鏡束流大,滿足高分辨EBSD的測試需求,能夠對金屬、陶瓷、礦物等多晶材料進行晶體取向標定以及晶粒度大小等分析。 該圖為Ni金屬標樣的EBSD反極圖,能夠識別晶粒大小和取向,判斷晶界和孿晶,對材料組織結構進行精確判斷。
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